Hochauflösendes Rasterelektronenmikroskop

Das beantragte Gerät dient als Ersatz f<e:1> r ein vorhandenes Rasterelektronenmikroskop, Das im Jahre, 2005，荷兰，Epple angeschafft wurde教授。as beantragte Gerät soll im Servicebetrieb f<e:1> r Arbeitsgruppen和der Universität (Campi Essen, Duisburg and Medizin) im zentralllabor f<e:1> r Rasterelektronenmikroskopie genutzt werden。Beantragt werden neben der Hochauflösung（他的1 nm durch - inense -透镜检测器），Zusatzfunktionen der Low Vacuum Mode, EDX/ wdx - dektor, Heiz- und k<e:1> hleinrichtungen和stem - dektor。die erweitert die experimentellen Möglichkeiten fr den Nutzerkreis gegens <e:1> erdem vorhandenen Gerät erheblich。研究方向：化学、物理、材料科学与生物科学。

Das beantragte Gerät dient als Ersatz für ein vorhandenes Rasterelektronenmikroskop, das im Jahre 2005 durch Prof. Epple angeschafft wurde. Das beantragte Gerät soll im Servicebetrieb für Arbeitsgruppen an der Universität (Campi Essen, Duisburg und Medizin) im Zentrallabor für Rasterelektronenmikroskopie genutzt werden. Beantragt werden neben der Hochauflösung (bis 1 nm durch einen in-lense Detektor) als Zusatzfunktionen der Low Vacuum Mode, ein EDX/WDX-Detektor, Heiz- und Kühleinrichtungen und ein STEM-Detektor. Dies erweitert die experimentellen Möglichkeiten für den Nutzerkreis gegenüber dem vorhandenen Gerät erheblich. Das beantragte Gerät dient zur Untersuchung unterschiedlichster Proben aus Chemie, Physik, Materialwissenschaften und Biologie.