Dual Beam Anlage mit EBSD

IWM需要受到金属制品、技术陶瓷和硬质合金的影响。该工具包在计算中始终是最好的工具包，而在纳米技术中，它的性能可以从Submikronbereich扩展到其他领域。Ihre Analyse erfordert hoch auflösende Feldmissions-Rastektronenmikroskope（FE-REM）.在布鲁克曼教授5年前的研究成果中，我们发现了一些新的理论，如Z.B.纳米陶瓷的开发、金属表面裂纹的研究、斯塔尔的抗拉强度的模拟和SPSTETechnologie中的金属表面裂纹的修复。这一研究是在早期进行的，研究所将快速眼动技术应用于其他领域，产生了快速眼动效应。FE-REM是一个缺陷，它并没有梅尔多地发展和完善真正的技术，而是通过一个现代的韦尔登来实现的。在国际上，IWM的研究主要是通过EBSD技术和实验来进行的。这一新的快速眼动模式应该是通过更好的选择性韦尔登来实现的。

Das IWM beschäftigt sich mit dem Einfluss des Gefüges auf die Eigenschaften von metallischen Legierungen, technischer Keramik und Hartmetallen. Die Werkstoffentwicklung bewegt sich in Richtung immer feinerer Gefüge, deren charakteristische Dimensionen sich vom Submikronbereich bis in den Nanobereich erstrecken. Ihre Analyse erfordert hoch auflösende Feldemissions-Rasterelektronenmikroskope (FE-REM). Nach der Berufung von Prof. Broeckmann vor 5 Jahren wurden neue Themengebiete erschlossen, wie z.B. die Entwicklung transparenter Nanokeramik, die Untersuchung der Rissaussbreitung in feinkristallinem Hartmetall, die Simulation von Ausscheidungsvorgängen beim Anlassen von Stahl und die Herstellung feinkristalliner Gefüge mittels SPSTechnologie. Um diese Forschungsarbeiten durchführen zu können, hat das Institut zum bereits vorhandenen konventionellen REM ein altes, gebrauchtes FE-REM angeschafft. Dieses FE-REM ist nun defekt, genügt aufgrund der veralteten Technologie nicht mehr den Anforderungen und soll durch ein modernes Gerät ersetzt werden. Um im internationalen Umfeld konkurrenzfähig zu bleiben, erfordern die vom IWM bearbeiteten Forschungsthemen darüber hinaus Analysen mittels EBSD-Technik und Experimente mit einer FIB-Anlage. Das neu zu beschaffende FE-REM soll daher mit diesen beiden Zusatzoptionen ausgerüstet werden.