Muon-induced soft error evaluation platform: future prediction based on measurement and simulation
Muon-induced soft error evaluation platform: future prediction based on measurement and simulation
批准号:
19H05664
负责人:
橋本 昌宜
金额:
$130.04万
依托单位:
依托单位国家:
日本
项目类别:
Grant-in-Aid for Scientific Research (S)
财政年份:
2019
资助国家:
日本
项目状态:
已结题
起止时间:
2019-06-26 至 2024-03-31
中文摘要
課題1-1では、電荷識別型宇宙線ミュオン計測システムを組み立てた。まずは永久磁石を外して、電荷識別・運動量分析をしない宇宙線計測を実施し、測定角度分布をGeant4シミュレーションの結果と比較して、概ね良い一致を得た。宇宙線飛跡構築のアルゴリズムの改良を進め、より現実的な条件下における飛跡推定性能の評価を行った。課題1-2では、パルスミューオン施設におけるミューオンフラックスの絶対量測定とミューオン捕獲反応で生成する放射能の絶対値測定を可能にする手法として、インビーム放射化法の検討をすすめ、有効に働く条件を検討し、J-PARC MUSEで利用可能である見通しを得た。課題2-1では、12nm, 28nm 評価ボードでエラー測定を行う評価システムを構築した。中性子照射実験を実施し、基本エラーデータを得た。課題2-2では、チップの動作を検証し、エラー測定に利用可能な評価システムの構築を進めた。課題2-3では、ニューラルネットワークの脆弱部分を高速に見つける手法を開発した。課題3では、PHITSに実装している負ミューオン原子核捕獲反応の励起関数において、Meson Exchange Current(MEC)の寄与を考慮することで、Si標的に対する負ミューオン原子核捕獲反応からの高エネルギー陽子放出の過小評価を改善した。NSFETに放射線入射が与える影響をデバイスシミュレーションにより解析し,ソース・ドレイン下部の絶縁膜の有無が過渡電流波形に与える影響を調べた。さらに,微細FETコンパクトモデルのパラメータを機械学習により抽出する方法について検討した。
英文摘要
課題1-1では、電荷識別型宇宙線ミュオン計測システムを組み立てた。まずは永久磁石を外して、電荷識別・運動量分析をしない宇宙線計測を実施し、測定角度分布をGeant4シミュレーションの結果と比較して、概ね良い一致を得た。宇宙線飛跡構築のアルゴリズムの改良を進め、より現実的な条件下における飛跡推定性能の評価を行った。課題1-2では、パルスミューオン施設におけるミューオンフラックスの絶対量測定とミューオン捕獲反応で生成する放射能の絶対値測定を可能にする手法として、インビーム放射化法の検討をすすめ、有効に働く条件を検討し、J-PARC MUSEで利用可能である見通しを得た。課題2-1では、12nm, 28nm 評価ボードでエラー測定を行う評価システムを構築した。中性子照射実験を実施し、基本エラーデータを得た。課題2-2では、チップの動作を検証し、エラー測定に利用可能な評価システムの構築を進めた。課題2-3では、ニューラルネットワークの脆弱部分を高速に見つける手法を開発した。課題3では、PHITSに実装している負ミューオン原子核捕獲反応の励起関数において、Meson Exchange Current(MEC)の寄与を考慮することで、Si標的に対する負ミューオン原子核捕獲反応からの高エネルギー陽子放出の過小評価を改善した。NSFETに放射線入射が与える影響をデバイスシミュレーションにより解析し,ソース・ドレイン下部の絶縁膜の有無が過渡電流波形に与える影響を調べた。さらに,微細FETコンパクトモデルのパラメータを機械学習により抽出する方法について検討した。
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Impact of Hydrided and Non-Hydrided Materials Near Transistors on Neutron-Induced Single Event Upsets
晶体管附近的氢化和非氢化材料对中子诱发的单粒子扰动的影响
DOI:
10.1109/irps45951.2020.9128951
发表时间:
2020
期刊:
Proceedings of International Symposium on Reliability Physics (IRPS)
影响因子:
--
作者:
[S. Abe, T. Sato, J. Kuroda, S. Manabe, Y. Watanabe, W. Liao, K. Ito, M. Hashimoto, M. Harada, K. Oikawa, and Y. Miyake]
通讯作者:
and Y. Miyake
DOI:
10.23919/date54114.2022.9774569
发表时间:
2022-03
期刊:
2022 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE)
影响因子:
--
作者:
[Yangchao Zhang;Hiroaki Itsuji;T. Uezono;Tadanobu Toba;Masanori Hashimoto]
通讯作者:
Yangchao Zhang;Hiroaki Itsuji;T. Uezono;Tadanobu Toba;Masanori Hashimoto
Impact of the Angle of Incidence on Negative Muon-Induced SEU Cross Sections of 65-nm Bulk and FDSOI SRAMs
入射角对 65 nm Bulk 和 FDSOI SRAM 的负 μ 子诱导 SEU 横截面的影响
DOI:
10.1109/tns.2020.2976125
发表时间:
2020
期刊:
IEEE Transactions on Nuclear Science
影响因子:
1.8
作者:
[Liao Wang, Hashimoto Masanori, Manabe Seiya, Watanabe Yukinobu, Abe Shin-ichiro, Tampo Motonobu, Takeshita Soshi, Miyake Yasuhiro]
通讯作者:
Miyake Yasuhiro
nTD-Si検出器を用いた波形解析による粒子弁別可能な荷電粒子計測システムの開発
开发使用 nTD-Si 检测器通过波形分析进行粒子识别的带电粒子测量系统
DOI:
--
发表时间:
2020
期刊:
影响因子:
--
作者:
[室田 拓哉, 川瀬 頌一郎, 渡辺 幸信, 真鍋 征也, 福田 宏哉, 西津 美咲, 田中 裕貴, 田村 幸大, 郷 慎太郎, 甲斐 民人, 永田 優斗, 新倉 潤, 北村 徳隆, 水野 るり恵]
通讯作者:
水野 るり恵
機械学習を用いた極微細MOSFETの電気特性およびパラメータの推定
使用机器学习估计超细 MOSFET 的电气特性和参数
DOI:
--
发表时间:
2021
期刊:
影响因子:
--
作者:
[町田佳奈美, 那須野 亮, 高木博史, 赤澤 光平,仲西唯吾,鈴木悠平,鎌倉良成]
通讯作者:
赤澤 光平,仲西唯吾,鈴木悠平,鎌倉良成
共 33 条
宇宙線による誤動作の克服に向けた次世代集積システムの信頼性評価基盤技術の開発
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批准号:24H00073
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项目类别:Grant-in-Aid for Scientific Research (S)
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资助金额:$130.87万
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财政年份:2024
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负责人:橋本 昌宜
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依托单位:
超微細LSIにおける遅延変動要因を考慮した静的遅延解析手法の開発
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批准号:14750261
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项目类别:Grant-in-Aid for Young Scientists (B)
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资助金额:$2.11万
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财政年份:2002
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负责人:橋本 昌宜
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依托单位:
超微細LSIにおける物理設計最適化手法の研究
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批准号:00J03094
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项目类别:Grant-in-Aid for JSPS Fellows
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资助金额:$0.64万
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财政年份:2000
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负责人:橋本 昌宜
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依托单位:
海外基金