Advancing Device Design Techniques to Obfuscate the Measurement of Electromagnetic Information Leakage

先进的设备设计技术来混淆电磁信息泄漏的测量

基本信息

批准号：
19H01104
负责人：
Hayashi Yuichi
金额：
$ 28.7万
依托单位：
Nara Institute of Science and Technology
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Scientific Research (A)
财政年份：
2019
资助国家：
日本
起止时间：
2019-04-01 至 2023-03-31
项目状态：
已结题

项目摘要

项目成果

期刊论文数量（57）

专著数量（0）

科研奖励数量（0）

会议论文数量（0）

专利数量（0）

Comparison of Pearson correlation coefficient and distance correlation in Correlation Power Analysis on Digital Multiplier

DOI：
10.23919/mipro48935.2020.9245325
发表时间：
2020-09
期刊：
2020 43rd International Convention on Information, Communication and Electronic Technology (MIPRO)
影响因子：
0
作者：
Jurica Kundrata;Daisuke Fujimoto;Y. Hayashi;A. Barić
通讯作者：
Jurica Kundrata;Daisuke Fujimoto;Y. Hayashi;A. Barić

Echo TEMPEST: EM Information Leakage Induced by IEMI for Electronic Devices

Echo TEMPEST：IEMI 引发的电子设备电磁信息泄漏

DOI：
10.1109/temc.2023.3252636
发表时间：
2023
期刊：
IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility
影响因子：
2.1
作者：
S. Kaji;D. Fujimoto;M. Kinugawa and Y. Hayashi
通讯作者：
M. Kinugawa and Y. Hayashi

A Fundamental Evaluation of EM Information Leakage Induced by IEMI for a Device with Differential Signaling

差分信号设备 IEMI 引起的 EM 信息泄漏的基本评估

DOI：
10.1109/apemc49932.2021.9597081
发表时间：
2021
期刊：
2021Asia-Pacific International Symposium on Electromagnetic Compatibility
影响因子：
0
作者：
Kaji Shugo;Fujimoto Daisuke;Kim Youngwoo;Hayashi Yuichi
通讯作者：
Hayashi Yuichi

リモートワーク環境におけるスピーカーフォンからの電磁波を通じた情報漏えい評価

远程工作环境中扬声器电磁波信息泄漏的评估

DOI：
发表时间：
2021
期刊：
影响因子：
0
作者：
福嶋章悟;藤本大介;林優一
通讯作者：
林優一

通信線路上のハードウェアトロイによる電磁情報漏えい評価法の検討～変調度と放射強度に着目した評価～

通信线路硬件木马电磁信息泄露评估方法研究-以调制度和辐射强度为重点评估-

DOI：
发表时间：
2022
期刊：
影响因子：
0
作者：
湯川大雅;鍛治秀伍;藤本大介;林優一
通讯作者：
林優一

DOI：
{{ item.doi }}
发表时间：
{{ item.publish_year }}
期刊：
{{ item.journal_name }}
影响因子：
{{ item.factor }}
作者：
{{ item.authors }}
通讯作者：
{{ item.author }}

数据更新时间：{{ journalArticles.updateTime }}

作者：
{{ item.author }}

数据更新时间：{{ monograph.updateTime }}

作者：
{{ item.author }}

数据更新时间：{{ sciAawards.updateTime }}

作者：
{{ item.author }}

数据更新时间：{{ conferencePapers.updateTime }}

作者：
{{ item.author }}

数据更新时间：{{ patent.updateTime }}

Hayashi Yuichi其他文献

Design Considerations for EM Pulse Fault Injection

EM 脉冲故障注入的设计注意事项

DOI：
10.1007/978-3-030-42068-0_11
发表时间：
2020
期刊：
International Conference on Smart Card Research and Advanced Applications. Springer
影响因子：
0
作者：
Beckers Arthur;Kinugawa Masahiro;Hayashi Yuichi;Fujimoto Daisuke;Balasch Josep;Gierlichs Benedikt;Verbauwhede Ingrid
通讯作者：
Verbauwhede Ingrid

Clinicopathological findings of a mitochondrial encephalopathy, lactic acidosis, and stroke‐like episodes/Leigh syndrome overlap patient with a novel m. 3482A>G mutation in MT‐ND1

线粒体脑病、乳酸性酸中毒和中风样发作/Leigh 综合征的临床病理学结果与 MT-ND1 中出现新的 m 3482A>G 突变的患者重叠。

DOI：
10.1111/neup.12709
发表时间：
2020
期刊：
Neuropathology
影响因子：
2.3
作者：
Hayashi Yuichi;Iwasaki Yasushi;Yoshikura Nobuaki;Yamada Megumi;Kimura Akio;Inuzuka Takashi;Miyahara Hiroaki;Goto Yuichi;Nishino Ichizo;Yoshida Mari;Shimohata Takayoshi
通讯作者：
Shimohata Takayoshi

専門職連携教育実装における開始期の課題と対処

跨专业教育实施初期的挑战与对策

DOI：
发表时间：
2020
期刊：
保健医療福祉連携
影响因子：
0
作者：
Hayashi Yuichi;Iwasaki Yasushi;Waza Masahiro;Kato Shinei;Akagi Akio;Kimura Akio;Inuzuka Takashi;Satoh Katsuya;Kitamoto Tetsuyuki;Yoshida Mari;Shimohata Takayoshi;後藤哲哉;井出成美,伊藤裕佳,酒井郁子
通讯作者：
井出成美,伊藤裕佳,酒井郁子

Adverse event profiles of ifosfamide-induced encephalopathy analyzed using the Food and Drug Administration Adverse Event Reporting System and the Japanese Adverse Drug Event Report databases

使用食品和药物管理局不良事件报告系统和日本不良药物事件报告数据库分析异环磷酰胺诱发脑病的不良事件概况

DOI：
10.1007/s00280-019-03949-5
发表时间：
2019
期刊：
Cancer Chemother Pharmacol
影响因子：
0
作者：
Shimada Kazuyo;Hasegawa Shiori;Nakao Satoshi;Mukai Ririka;Matsumoto Kiyoka;Tanaka Mizuki;Uranishi Hiroaki;Masuta Mayuko;Nishida Shohei;Shimizu Shinya;Hayashi Yuichi;Suzuki Akio;Nakamura Mitsuhiro
通讯作者：
Nakamura Mitsuhiro

Possibility of Injecting Malicious Instructions from Legitimate Communication Channels by IEMI

IEMI 从合法通信渠道注入恶意指令的可能性

DOI：
10.1109/emcsi38923.2020.9191669
发表时间：
2020
期刊：
2020 IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility & Signal/Power Integrity
影响因子：
0
作者：
Kinugawa Masahiro;Hayashi Yuichi
通讯作者：
Hayashi Yuichi