Understanding of SEM secondary electron voltage contrast and development of quantification method
Understanding of SEM secondary electron voltage contrast and development of quantification method
SEM二次电子电压对比的理解和定量方法的发展
批准号：
18K04246
负责人：
Tanaka Shigeyasu
金额：
$2.75万
依托单位：
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
财政年份：
2018
资助国家：
日本
项目状态：
已结题
起止时间：
2018-04-01 至 2023-03-31
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Application of Ar Ion Beam Milling on Sectioning of Cells for SEM Observations
Ar 离子束铣削在用于 SEM 观察的细胞切片中的应用
Ar 离子束铣削在用于 SEM 观察的细胞切片中的应用
DOI：
10.1017/s1431927619005245
发表时间：
2019
期刊：
Microsc. Microanal.
影响因子：
--
作者：
[Shigeyasu Tanaka, Yusuke Ohmi]
通讯作者：
Yusuke Ohmi
Sectioning of Cultured Cells by Ar Ion Beam Milling for SEM Observations
通过 Ar 离子束铣削对培养细胞进行切片以进行 SEM 观察
通过 Ar 离子束铣削对培养细胞进行切片以进行 SEM 观察
DOI：
10.1017/s1431927620022448
发表时间：
2020
期刊：
Microsc. Microanal.
影响因子：
--
作者：
[吉角龍一, 長谷川尊之, 田中義人, 坪田秀平, 佐藤井一, S. Tanaka and Y. Ohmi]
通讯作者：
S. Tanaka and Y. Ohmi
半導体p-n接合のSEMドーパントコントラストの検討
半导体p-n结的SEM掺杂对比研究
半导体p-n结的SEM掺杂对比研究
DOI：
--
发表时间：
2023
期刊：
影响因子：
--
作者：
[Kimoto Katsuhiko, Kimoto Suguru, Hoshi Noriyuki, Sato Yusuke, Yoneyama Yoshikazu, Takebe Jun, Ichikawa Tetsuo, Murata Hiroshi, Nishimura Masahiro, Minakuchi Shunsuke, Kawai Yasuhiko, 大久保 力廣, 岡本英治，矢野哲也，関根一光，井上雄介，白石泰之，山家智之，三田村好矩, 岡本英治,三田村好矩, 岡本英治, 岡本英治，矢野哲也，関根一光，井上雄介，白石泰之，山家智之，三田村好矩, 田中成泰]
通讯作者：
田中成泰
培養細胞断面SEM観察のためのArイオンビームによる試料作製
使用 Ar 离子束制备样品，用于培养细胞的横截面 SEM 观察
使用 Ar 离子束制备样品，用于培养细胞的横截面 SEM 观察
DOI：
--
发表时间：
2018
期刊：
影响因子：
--
作者：
[田中成泰, 長岡祥平, 大海雄介]
通讯作者：
大海雄介
Preparation of Biological Samples for SEM Observations using Ionic Liquid
使用离子液体制备用于 SEM 观察的生物样品
使用离子液体制备用于 SEM 观察的生物样品
DOI：
--
发表时间：
2018
期刊：
影响因子：
--
作者：
[S. Tanaka, S. Nakayama. K. Niimi, H. Miyake]
通讯作者：
H. Miyake
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