Improvement on long term reliability of interconnection of solar cell module
Improvement on long term reliability of interconnection of solar cell module
批准号:
18K05304
负责人:
Tatsumi Kohei
金额:
$2.0万
依托单位:
依托单位国家:
日本
项目类别:
Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
财政年份:
2018
资助国家:
日本
项目状态:
已结题
起止时间:
2018-04-01 至 2021-03-31
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太陽電池モジュ-ルおよびその製造方法
太阳能电池组件及其制造方法
DOI:
--
发表时间:
2021
期刊:
影响因子:
--
作者:
[]
通讯作者:
共振式疲労試験機を用いたNiマイクロメッキ接合の長期信頼性
使用共振疲劳测试仪测定镍微镀接头的长期可靠性
DOI:
--
发表时间:
2020
期刊:
影响因子:
--
作者:
[于昕光, 堂免凌太, 森迫勇, 小柴佳子, 飯塚智徳, 巽宏平]
通讯作者:
巽宏平
High temperature resistant packaging technology for SiC power module by using Ni micro-plating bonding
Ni微镀键合SiC功率模块耐高温封装技术
DOI:
--
发表时间:
2019
期刊:
影响因子:
--
作者:
[Kohei Tatsumi, Isamu Morisako, Keiko Wada, Minoru Fukuomori, Tomonori Iizuka,Nobuaki Sato, Koji Shimizu, Kazutoshi Ueda, Masayuki Hikita, Rikiya Kamimura, Naoki Kawanabe, Kazuhiko Sugiura, Kazuhiro Tsuruta, Keiji Toda]
通讯作者:
Keiji Toda
Cuコアボールを介したNiマイクロメッキ接合の高温信頼性
通过铜芯球进行镍微镀键合的高温可靠性
DOI:
--
发表时间:
2020
期刊:
影响因子:
--
作者:
[小野寺巧, 富士原巧, 小柴佳子, 飯塚智徳, 巽宏平]
通讯作者:
巽宏平
Niマイクロメッキ接合における接合部の高温信頼性
镍微镀接头接头的高温可靠性
DOI:
--
发表时间:
2019
期刊:
影响因子:
--
作者:
[小野寺巧, 中川将嘉, 和田佳子, 飯塚智徳, 巽宏平]
通讯作者:
巽宏平
共 13 条
Study on interconnection technology for high temperature resistant packages with stress release structure by using Nano-Ni particles
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批准号:15K04628
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项目类别:Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
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资助金额:$3.0万
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财政年份:2015
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负责人:Tatsumi Kohei
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依托单位: