300kV Raster-Transmissionselektronenmikroskop

点击翻译按钮获取中文摘要

Es soll ein (Raster-)Transmissionselektronenmikroskop beschafft werden, das als Hauptausstattungsmerkmale eine Elektronenquelle hoher Helligkeit, einen Korrektor für die sphärische Aberration der strahlformenden Optik, ein Si-Drift Röntenspektrometer mit mehreren Detektoren, einen Dual-axis Tomographiehalter und einen 360° Rotations-Tomographiehalter sowie eine ultraschnelle Direktelektronenkamera aufweist. Das Gerät wird primär durch die AG Rosenauer und das MAPEX Center for Materials and Processee genutzt. Dieses (S)TEM wird dringend benötigt, um kürzlich entwickelte Verfahren zur Messung atomarer Felder und Ladungsdichten einsetzen zu können, um Methoden zur quantitativen STEM auf den Bereich probe-korrigierter STEM zu erweitern und um örtlich hochaufgelöste chemische Analyse z. B. in metallischen Nanodrähten, Halbleiterquantenpunkten, oxidischen Nanohybriden und dotierten CuO-Nanopartikeln durchführen zu können. Das Gerät soll Teil des DFG-Gerätezentrums der AG Rosenauer und des (aktuell noch virtuellen) Gerätezentrums des materialwissenschaftlichen Schwerpunktes MAPEX sein und den aktuell 55 Principal investigators und ca. 30 Early Carrier Investigators, unterstützt durch die AG Rosenauer, zur Verfügung stehen.