Streuende Raster-Nahfeld optische Mikroskopie (s-SNOM)

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Die Streuende Raster-Nahfeld optische Mikroskopie (s-SNOM) ist eine relativ junge Methode, mithilfe derer chemische Analyse von nanostrukturierten Oberflächen mit einer Ortsauflösung von wenigen Nanometer (min. ca. 10 nm) möglich werden. Die chemische Analyse findet dabei durch ortsaufgelöste Infrarotspektroskopie statt, wodurch höchstaufgelöste chemische Karten von Oberflächen erzeugt werden. Es können sowohl Abbildungen mit Kontrast auf Basis der der Infrarotabsorption der Probe als auch komplette Infrarotspektren von sehr kleinen Probenvolumina erzeugt werden. Diese Methode ist für die Charakterisierung von nanostrukturierten Polymeroberflächen und von Oberflächen in Nanokompositen, bei der chemischen Funktionalisierung von Oberflächen sowie bei der Identifizierung von Mikrostrukturen in maßgeschneiderten Polymermaterialen von unschätzbarem Wert. Mit klassischer Rasterkraftmikroskopie lässt sich keine chemische Analyse durchführen, abbildende XPS oder STED-Mikroskopie in Kombination mit Fluoreszenzmarkierung der Proben liefern nicht das notwendige Auflösungsvermögen. Das s-SNOM wird in allen Bereichen der Forschung an Polymeren an Oberflächen sehr wertvolle Beiträge liefern und sich zu einer standardmäßig eingesetzten Methode in der Makromolekularen Chemie in Göttingen entwickeln.