Tieftemperatur-Spektroskopie-Messplatz

低温光谱测量站

• 批准号: 386036784
• 金额: --
• 依托单位: Universität Münster
• 依托单位国家: 德国
• 项目类别: Major Research Instrumentation
• 财政年份: 2017
• 资助国家: 德国
• 起止时间: 2016-12-31 至 无数据
• 项目状态: 未结题
• 来源: https://gepris.dfg.de/gepris/projekt/386036784?language=en
• 关键词: Tieftemperatur; Spektroskopie; Messplatz

Die Anschaffung des Tieftemperatur-Spektroskopie-Messplatzes steht im Zusammenhang mit der Neuberufung von Prof. Bratschitsch im Jahr 2013 an das Physikalische Institut der VIANU Münster und dient der Erstausstattung der Professur. Der Messplatz umfasst zwei Komponenten: I. He-Badkryostat mit Tieftemperaturmikroskop, bestehend aus einem Kryostaten mit großen Probenraum, Nanopositionierern und Tieftemperatur-MikroskopobjektivenII. Licht-Detektionseinheit, bestehend aus zwei Spektrometern, Streakkamera für VIS und NIR, SiCCD und InGaAs-IR Detektor mit Zubehör. Der Messplatz erlaubt das Aufnehmen von Transmissionsspektren und Lumineszenzspektren über einen weiten Zeitbereich (Pikosekunden bis Millisekunden) und über einen großen Temperaturbereich (1.7 - 300 K). Er ermöglicht dadurch eine Analyse von Energie- und Ladungstransferprozessen in Festkörper-Nanosystemen wie 2D-Halbleitern oder Farbzentren in Diamant.

2013年，Bratschitsch教授在维也纳国立大学明斯特物理研究所和维也纳国立大学环境研究所的Neuberufung教授的指导下，对Tieftemperatur-Spektroskopie-Messplatzes进行了研究。Der Messplatz umfasts zwei componenten：I.他-Badkryostat与Tieftemperaturmikroskop，bestehire从一个Kryostaten与大Probenraum，Nanopositionierern和Tieftemperatur-MikroskopbjektivenII。光探测器，由两种光谱仪、维斯和NIR条纹相机、SiCCD和InGaAs-IR探测器组成。该展览会旨在提高透射率和发光率，使其具有较低的温度（1.7 - 300 K）。Er ermöglicht dadmineine Analyse von Energie- und Ladungtransferprozessen in Festkörper-Nanosystemen wie 2D-Halbleitern or der Farbzentren in Diamant.