Tieftemperatur-Spektroskopie-Messplatz
Tieftemperatur-Spektroskopie-Messplatz
批准号:
386036784
负责人:
金额:
$0.0万
依托单位:
依托单位国家:
德国
项目类别:
Major Research Instrumentation
财政年份:
2017
资助国家:
德国
项目状态:
未结题
起止时间:
2016-12-31 至 --
中文摘要
从2013年1月到2013年1月,我和德国的理工学院和理工学院的理工学院和专业人员的关系都得到了改善。从信息平台上看:一、他许可证-检测,请注意Aus zwei Spektrometern,Streakkamera für Vis und NIR,SiCCD and InGaAs-IR Detektor MIT Zubehör.der MessPlaz erlabt das Aufnehmen von TransmitsionsSpektren and LigneszenzSpektrenüber einen Weiten Zeitberich(Pikosekunden Bis Millisekunden)andüber eber einen groçen Temperaturbereich(1.7-300K)。在钻石的Festkörper-Nanosystens Wie 2D-Halbleitern中分析了von Energie-und Ladungstransferprozessen。
英文摘要
Die Anschaffung des Tieftemperatur-Spektroskopie-Messplatzes steht im Zusammenhang mit der Neuberufung von Prof. Bratschitsch im Jahr 2013 an das Physikalische Institut der VIANU Münster und dient der Erstausstattung der Professur. Der Messplatz umfasst zwei Komponenten: I. He-Badkryostat mit Tieftemperaturmikroskop, bestehend aus einem Kryostaten mit großen Probenraum, Nanopositionierern und Tieftemperatur-MikroskopobjektivenII. Licht-Detektionseinheit, bestehend aus zwei Spektrometern, Streakkamera für VIS und NIR, SiCCD und InGaAs-IR Detektor mit Zubehör. Der Messplatz erlaubt das Aufnehmen von Transmissionsspektren und Lumineszenzspektren über einen weiten Zeitbereich (Pikosekunden bis Millisekunden) und über einen großen Temperaturbereich (1.7 - 300 K). Er ermöglicht dadurch eine Analyse von Energie- und Ladungstransferprozessen in Festkörper-Nanosystemen wie 2D-Halbleitern oder Farbzentren in Diamant.
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