Rasterelektronenmikroskop mit integrierter Mikro-Raman-Spektroskopie

点击翻译按钮获取中文摘要

Die hochauflösende Analytik mittels Ionensonde (Sekundärionen-Massenspektrometrie SIMS) erlaubt es, die isotopische Zusammensetzung von Feststoffen in Größenmaßstäben zu untersuchen, wie sie für Kristallisation und Diffusion in natürlichen Systemen relevant sind. Dabei ist eine chemische und strukturelle Charakterisierung der Proben vor und nach der SIMS Analyse unerlässlich. Diese wird routinemäßig durch die zerstörungsfreie Elektronenstrahlanalytik (z.B. mittels Rückstreuelektronen oder Kathodolumineszenz) durchgeführt. Ein innovativer Ansatz ist es, dabei auch die Struktur der Proben durch Raman Mikroanalytik zu erfassen. Dieser Antrag zielt darauf ab, in bislang einzigartiger Weise die Funktionen eines Rasterelektronenmikroskops mit denen eines hochauflösenden konfokalen Raman-Mikroskops zu kombinieren. Daraus ergeben sich neuartige Einsichten in grundlegende geologische Prozesse, deren Spuren sich in Mineralen im Nano- bis Mikromaßstab eingeprägt haben und die durch isotopische Analyse mittels Ionensonde entschlüsselt werden können. Zusammen mit der seit 2014 am Institut für Geowissenschaften Heidelberg installierten Ionensonde wird das hier beantragte Gerät den Kern eines Brückenlabors bilden, das in Deutschland hinsichtlich der Vielfalt verfügbarer mikroanalytischer Verfahren einmalig wäre. Dieses Brückenlabor soll Wissenschaftlern und Studierenden aller Ebenen des Instituts, der Universität Heidelberg, sowie der nationalen und internationalen Forschungsgemeinschaft zugänglich sein.