高信頼LSI創出のための欠陥考慮型耐ソフトエラー技術に関する研究
高信頼LSI創出のための欠陥考慮型耐ソフトエラー技術に関する研究
研究用于创建高可靠LSI的缺陷感知软错误抵抗技术
批准号：
23K21653
负责人：
温 暁青
金额：
$3.16万
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
财政年份：
2024
资助国家：
日本
项目状态：
未结题
起止时间：
2024-02-28 至 2025-03-31
中文摘要
翻译
点击翻译按钮获取中文摘要
英文摘要
期刊论文(0)
专著(0)
科研奖励(0)
会议论文
Research on Defect-Aware Soft-Error Mitigation for Reliable LSIs
-
批准号：21H03411
-
项目类别：Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
-
资助金额：$7.99万
-
财政年份：2021
-
负责人：温 暁青
-
依托单位：
VLSIの電流テスト容易化設計と電流波形による故障検出に関する研究
-
批准号：07780218
-
项目类别：Grant-in-Aid for Encouragement of Young Scientists (A)
-
资助金额：$0.7万
-
财政年份：1995
-
负责人：温 暁青
-
依托单位：