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走査型電子顕微鏡下における単一砥粒の加工試験・分析の一貫システムの構築

走査型電子顕微鏡下における単一砥粒の加工試験・分析の一貫システムの構築
扫描电镜下单颗磨粒加工检测分析一体化系统的构建
批准号：
23K22696
负责人：
土屋 健介
金额：
$2.91万
依托单位：
The University of Tokyo
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
财政年份：
2024
资助国家：
日本
项目状态：
未结题
起止时间：
2024-02-28 至 2025-03-31
来源：
https://kaken.nii.ac.jp/en/grant/KAKENHI-PROJECT-23K22696/
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走査型電子顕微鏡下における単一砥粒の加工試験・分析の一貫システムの構築
  • 批准号：
    22H01425
  • 项目类别：
    Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
  • 资助金额：
    $11.15万
  • 财政年份：
    2022
  • 负责人：
    土屋 健介
  • 依托单位：
    The University of Tokyo
プラズモン共鳴をナノワイヤ表面に発生させる近接場光顕微鏡の設計・製作
  • 批准号：
    21656066
  • 项目类别：
    Grant-in-Aid for Challenging Exploratory Research
  • 资助金额：
    $2.05万
  • 财政年份：
    2009
  • 负责人：
    土屋 健介
  • 依托单位：
    The University of Tokyo
近接場光によるナノ粒子配列技術の開発
  • 批准号：
    15656035
  • 项目类别：
    Grant-in-Aid for Exploratory Research
  • 资助金额：
    $2.11万
  • 财政年份：
    2003
  • 负责人：
    土屋 健介
  • 依托单位：
    The University of Tokyo
マイクロサイエンスのための3次元微細ハンドリングシステムの構築
  • 批准号：
    99J10166
  • 项目类别：
    Grant-in-Aid for JSPS Fellows
  • 资助金额：
    $1.73万
  • 财政年份：
    1999
  • 负责人：
    土屋 健介
  • 依托单位：
    The University of Tokyo