Development of electron beam profile monitors using parametric X-ray radiation

开发使用参量 X 射线辐射的电子束轮廓监视器

基本信息

项目摘要

A beam profile is extremely useful for the examination of the beam emittance and optical parameters associated with accelerators. Optical transition radiation (OTR) is commonly used as a high precision profile monitor for electron beams in linacs. However, it was found that for short beam bunches in linacs dedicated to X-ray free electron lasers, the OTR becomes coherent, making it unsuitable for use as a beam profile monitor.In order to avoid this coherence, photons with shorter wavelengths are required. In this study, we propose to exploit parametric X-ray radiation through three new approaches: (i) a local method, (ii) a pinhole method, and (iii) a Fresnel-zone-plate (FZP) method. We have succeeded in performing proof-of-principle experiments on the local method and the pinhole method. In addition, we designed an experimental setup for the FZP method; its proof-of-principle experiment is in progress.
束流剖面图对于检验加速器的束流发射度和光学参数是非常有用的。光学渡越辐射(OTR)是直线加速器中常用的高精度电子束轮廓监测器。然而,人们发现,对于专用于X射线自由电子激光器的直线加速器中的短束团,OTR变得相干,使得其不适合用作束流轮廓监测器。为了避免这种相干,需要具有较短波长的光子。在这项研究中,我们提出了利用参数X射线辐射通过三种新的方法:(i)局部方法,(ii)针孔方法,和(iii)菲涅耳波带片(FZP)方法。我们已经成功地进行了本地方法和针孔方法的原理验证实验。此外,我们设计了一个实验装置的FZP方法,其原理验证实验正在进行中。

项目成果

期刊论文数量(5)
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New method for measuring beam profiles using a parametric X-ray pinhole camera
使用参数化 X 射线针孔相机测量光束轮廓的新方法
  • DOI:
    10.1016/j.physleta.2013.07.035
  • 发表时间:
    2013
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    Y. Takabayashi;K. Sumitani
  • 通讯作者:
    K. Sumitani
Channeling and parametric X-ray studies at the SAGA Light Source
SAGA 光源的通道和参数 X 射线研究
  • DOI:
    10.1016/j.nimb.2013.02.024
  • 发表时间:
    2013
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    Y. Takabayashi;K.B. Korotchenko;Yu.L. Pivovarov;T.A. Tukhfatullin
  • 通讯作者:
    T.A. Tukhfatullin
Parametric X-ray radiation as a beam size monitor
作为光束尺寸监测器的参数 X 射线辐射
  • DOI:
    10.1016/j.physleta.2012.06.001
  • 发表时间:
    2012
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    Y. Takabayashi;K.B. Korotchenko;Yu.L. Pivovarov;T.A. Tukhfatullin;Y. Takabayashi
  • 通讯作者:
    Y. Takabayashi
Development of a Beam Profile Monitor Using Parametric X-ray Radiation
使用参数 X 射线辐射开发光束轮廓监视器
  • DOI:
  • 发表时间:
    2012
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    Y. Takabayashi;K. Sumitani
  • 通讯作者:
    K. Sumitani
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