开发用于纳米级高灵敏度电流电压测量的导电扫描探针显微镜系统-猫眼课题宝

开发用于纳米级高灵敏度电流电压测量的导电扫描探针显微镜系统

批准号：

25630168

负责人：

Murakami Katsuhisa

金额：

$2.58万

依托单位：

University of Tsukuba

依托单位国家：

日本

项目类别：

Grant-in-Aid for Challenging Exploratory Research

财政年份：

2013

资助国家：

日本

项目状态：

已结题

起止时间：

2013-04-01 至 2016-03-31

来源：

https://kaken.nii.ac.jp/en/grant/KAKENHI-PROJECT-25630168/

关键词：

導電性プローブ顕微鏡 AFM CAFM

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同軸構造導電性AFMプローブの作成

同轴结构导电 AFM 探针的制作

DOI： --

发表时间： 2014

期刊：

影响因子： --

作者：

[宮下晃, 村上勝久, 藤田淳一]

通讯作者：藤田淳一

Development of ultrahigh efficiency planer-type electron emission devices using a stacked structure of atomic layer materials

批准号：

18H01505
项目类别：

Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
资助金额：

$11.15万
财政年份：

2018
负责人：

Murakami Katsuhisa
依托单位：

National Institute of Advanced Industrial Science and Technology

Development of graphite intercalation compound integration technology on insulating substrate and its device applications.

批准号：

16K14223
项目类别：

Grant-in-Aid for Challenging Exploratory Research
资助金额：

$2.41万
财政年份：

2016
负责人：

Murakami Katsuhisa
依托单位：

National Institute of Advanced Industrial Science and Technology

Direct synthesis of graphene on an insulator substrate by chemical vapor deposition using metal vapor catalysts and development of high efficiency MOS type electron emission devices

批准号：

15H05522
项目类别：

Grant-in-Aid for Young Scientists (A)
资助金额：

$13.81万
财政年份：

2015
负责人：

Murakami Katsuhisa
依托单位：

National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (2016-2017)University of Tsukuba (2015)