Pulver-Diffraktometer

模粉状衍射计，用于IAAC的频率测量。德国可持续材料研究所教授，德国可持续材料研究所教授，德国可持续材料研究所教授，德国可持续材料研究所教授，德国可持续材料研究所教授，德国可持续材料研究所教授，德国可持续材料研究所教授，德国可持续材料研究所教授。Mit der aktuellen Ausstattung（传动几何）können disese night abgedeckt werden。反射几何中的粉末衍射仪，das die zerstörungsfreie Charakterisierung Sinterkörpern z. B. f<s:1>, r . die Thermoelektrik oder Proben auf substrate ermöglicht, mit einem Wechslersystem zur schnellen Charakterisierung großer Probenmengen。<s:1> den gros ßen Anteil luftempfindlicher verindungen am Institut wind eine Messmöglichkeit mit Cu-Strahlung in Kapillaren benötigt。[3][1]材料材料的相变动力学研究。[4] [f] [f] [f] [f] [d] [d] [d] [d] [d] [d] [d] [d]。Um and Schichten reflekometer -, GI-XRD- and GISAXS- Messungen sowie Texturanalysen durchf<s:1> hren zu können, 1 - eine 3-Achsen-Eulerwiege erforderlich。研究方向：纳米粒子粒子动力学研究进展Größe和纳米粒子动力学研究进展nötig。本文介绍了模具几何与模具几何的关系，以及模具几何与模具几何的关系。Die hoth Variabilität wind auth angestrebt, um fgr weitere Forschungsprojekte zusätzliche Messoptionen zu realisieren。

Die Pulverdiffraktometer des IAAC werden mit stetig steigender Frequenz verwendet. Durch die Neuschaffung einer materialwissenschaftlich ausgerichteten fünften Professur am Institut mit dem Studiengang Sustainable Materials ergeben sich neue Messanforderungen, die auch für die Forschung der anderen Arbeitsgruppen zunehmend relevant werden. Mit der aktuellen Ausstattung (Transmissionsgeometrie) können diese nicht abgedeckt werden. Beantragt wird ein variables Pulverdiffraktometer in Reflexionsgeometrie, das die zerstörungsfreie Charakterisierung von Sinterkörpern z. B. für die Thermoelektrik oder Proben auf Substraten ermöglicht, mit einem Wechslersystem zur schnellen Charakterisierung großer Probenmengen. Für den großen Anteil luftempfindlicher Verbindungen am Institut wird eine Messmöglichkeit mit Cu-Strahlung in Kapillaren benötigt. Zur Bestimmung von Phasenumwandlungen oder des thermischen Verhaltens von Katalysatormaterialien wird eine Ofenkammer beantragt. Für die Forschung dringend benötigt wird die Charakterisierung von dünnen Schichten, Nano- und Core-shell-partikeln. Um an Schichten Reflektometrie-, GI-XRD- und GISAXS- Messungen sowie Texturanalysen durchführen zu können, ist eine 3-Achsen-Eulerwiege erforderlich. Zur Bestimmung von Größe und Struktur von Nanopartikeln ist eine SAXS/GISAXS-Option nötig. Mittels zweier Optiken kann die Geometrie an die verschiedenen Messanforderungen optimal angepasst werden. Die hohe Variabilität wird auch angestrebt, um für weitere Forschungsprojekte zusätzliche Messoptionen zu realisieren.