On-line größenfraktionierte Elementanalyse von ultrafeinen Nanopartikeln

本文通过对纳米颗粒的Gasphasensynthese von Nanopartikeln的研究，提出了一种新的纳米颗粒的合成方法，并对该方法进行了在线分析。因此，必须要有一种韦尔登颗粒，即通过将超细扫描迁移率粒度仪（U-SMPS）和电感耦合等离子体质谱仪（ICP-MS）结合起来，对纳米颗粒进行在线分析。这种超微粒子不仅具有新的物理、化学和光学特性，而且还具有新的混合材料和传统材料。Im Gegenetzu früheren Ansätzen erlaubt die Combination von U-SMPS und ICP-MS，geringste Mengen ultrafeiner Nanopartikeln（untere Grenze ca. 1nm）größenklassiert in ihrer elementaren Zusammensetzung mit hoher zeitlicher und materialspezifischer Auflösung（Nachweischalze im ppt-Bereich）zu charakterisieren.纳米颗粒的粒度和硬度都很高，因此纳米颗粒的加工速度很快，而且韦尔登也很稳定。

Während sich bei der Gasphasensynthese von Nanopartikeln eine Reihe von innovativen Prozessen gerade auch für die Herstellung mehrkomponentiger Nanopartikeln zu etablieren beginnen, bleiben die Möglichkeiten der On-line-Analyse dieser komplexen Partikeln hinter den Syntheseanstrengungen zurück. Daher soll hier ein Gerät beantragt werden, das durch die Kombination aus einem größenselektiven Klassiergerät (U-SMPS: Ultrafine Scanning Mobility Particle Sizer) und einem elementspezifischen Massenspektrometer (ICP-MS: Inductively Coupled Plasma Mass Spectrometer) erstmals erlaubt, die Zusammensetzung von Nanopartikeln mit Durchmessern im einstelligen Nanometerbereich on-line zu analysieren. Diese ultrafeinen Nanopartikeln zeigen nicht nur neue physikalische, chemische und optische Eigenschaften, sondern bilden auch völlig neuartige Materialien als Mischungen und Legierungen. Im Gegensatz zu früheren Ansätzen erlaubt die Kombination von U-SMPS und ICP-MS, geringste Mengen ultrafeiner Nanopartikeln (untere Grenze ca. 1nm) größenklassiert in ihrer elementaren Zusammensetzung mit hoher zeitlicher und materialspezifischer Auflösung (Nachweisgrenze im ppt-Bereich) zu charakterisieren. Damit sollen größenabhängige Mischungsgrade und Dotierungen bestimmt und auch Wachstumsstadien von Nanopartikeln sowie Beschichtungsprozesse erfasst und verstanden werden.