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Measurement conditions of atomic-resolution optical imaging in near-field scanning optical microscopy using the force detection

Measurement conditions of atomic-resolution optical imaging in near-field scanning optical microscopy using the force detection
使用力检测的近场扫描光学显微镜原子分辨率光学成像的测量条件
批准号：
26600013
负责人：
SUGAWARA YASUHIRO
金额：
$2.5万
依托单位：
Osaka University
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Challenging Exploratory Research
财政年份：
2014
资助国家：
日本
项目状态：
已结题
起止时间：
2014-04-01 至 2016-03-31
来源：
https://kaken.nii.ac.jp/en/grant/KAKENHI-PROJECT-26600013/
关键词：
ナノプローブ走査プローブ顕微鏡

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Surface Potential Measurement of TiO2(110) by Using Atomic Force microscopy (AFM)/Kelvin Probe Force Microscopy (KPFM)
使用原子力显微镜 (AFM)/开尔文探针力显微镜 (KPFM) 测量 TiO2(110) 的表面电位
DOI： --
发表时间： 2014
期刊：
影响因子： --
作者： [Y. Sugawara, L. Kou, R. Kanbarashi, H. F. Wen and Y. J. Li]
通讯作者： H. F. Wen and Y. J. Li
Vertical atomic manipulation with dynamic atomic-force microscopy without tip change via a multi-step mechanism
DOI： 10.1038/ncomms5476
发表时间： 2014-07
期刊： Nature Communications
影响因子： 16.6
作者： [J. Bamidele;Seung Hwan Lee;Y. Kinoshita;R. Turanský;Y. Naitoh;Y. Li;Y. Sugawara;I. Štich;L. Kantorovich]
通讯作者： J. Bamidele;Seung Hwan Lee;Y. Kinoshita;R. Turanský;Y. Naitoh;Y. Li;Y. Sugawara;I. Štich;L. Kantorovich
Distance dependence of atomic-resolution near-field imaging on α-Al2O3 (0001) surface with respect to surface photovoltage of silicon probe tip
DOI： 10.1007/s12274-015-0934-4
发表时间： 2016-02
期刊： Nano Research
影响因子： 9.9
作者： [J. Yamanishi;T. Tokuyama;Y. Naitoh;Y. Li;Y. Sugawara]
通讯作者： J. Yamanishi;T. Tokuyama;Y. Naitoh;Y. Li;Y. Sugawara
大阪大学大学院工学研究科精密科学・応用物理学専攻ナノ物性工学領域
大阪大学大学院工学研究科精密科学与应用物理系
DOI： --
发表时间：
期刊：
影响因子： --
作者： []
通讯作者：
共 14 条
    Imaging mechanism for molecules by optical near-field microscopy using force detection
    • 批准号：
      16K13616
    • 项目类别：
      Grant-in-Aid for Challenging Exploratory Research
    • 资助金额：
      $2.33万
    • 财政年份：
      2016
    • 负责人：
      SUGAWARA YASUHIRO
    • 依托单位：
      Osaka University
    Assembly and charge transfer mechanism of nanostructures on insulator surfaces using atomic force microscopy
    • 批准号：
      25246027
    • 项目类别：
      Grant-in-Aid for Scientific Research (A)
    • 资助金额：
      $25.13万
    • 财政年份：
      2013
    • 负责人：
      SUGAWARA YASUHIRO
    • 依托单位：
      Osaka University
    High Sensitive and High Resolution Imaging of Magnetic Exchange Force Microscopy Using Ferromagnetic Resonance
    • 批准号：
      24656035
    • 项目类别：
      Grant-in-Aid for Challenging Exploratory Research
    • 资助金额：
      $2.58万
    • 财政年份：
      2012
    • 负责人：
      SUGAWARA YASUHIRO
    • 依托单位：
      Osaka University
    海外基金