Measurement conditions of atomic-resolution optical imaging in near-field scanning optical microscopy using the force detection

使用力检测的近场扫描光学显微镜原子分辨率光学成像的测量条件

基本信息

  • 批准号:
    26600013
  • 负责人:
  • 金额:
    $ 2.5万
  • 依托单位:
  • 依托单位国家:
    日本
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for Challenging Exploratory Research
  • 财政年份:
    2014
  • 资助国家:
    日本
  • 起止时间:
    2014-04-01 至 2016-03-31
  • 项目状态:
    已结题

项目摘要

项目成果

期刊论文数量(15)
专著数量(0)
科研奖励数量(0)
会议论文数量(0)
专利数量(0)
Surface Potential Measurement of TiO2(110) by Using Atomic Force microscopy (AFM)/Kelvin Probe Force Microscopy (KPFM)
使用原子力显微镜 (AFM)/开尔文探针力显微镜 (KPFM) 测量 TiO2(110) 的表面电位
  • DOI:
  • 发表时间:
    2014
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    Y. Sugawara;L. Kou;R. Kanbarashi;H. F. Wen and Y. J. Li
  • 通讯作者:
    H. F. Wen and Y. J. Li
Vertical atomic manipulation with dynamic atomic-force microscopy without tip change via a multi-step mechanism
  • DOI:
    10.1038/ncomms5476
  • 发表时间:
    2014-07
  • 期刊:
  • 影响因子:
    16.6
  • 作者:
    J. Bamidele;Seung Hwan Lee;Y. Kinoshita;R. Turanský;Y. Naitoh;Y. Li;Y. Sugawara;I. Štich;L. Kantorovich
  • 通讯作者:
    J. Bamidele;Seung Hwan Lee;Y. Kinoshita;R. Turanský;Y. Naitoh;Y. Li;Y. Sugawara;I. Štich;L. Kantorovich
Distance dependence of atomic-resolution near-field imaging on α-Al2O3 (0001) surface with respect to surface photovoltage of silicon probe tip
  • DOI:
    10.1007/s12274-015-0934-4
  • 发表时间:
    2016-02
  • 期刊:
  • 影响因子:
    9.9
  • 作者:
    J. Yamanishi;T. Tokuyama;Y. Naitoh;Y. Li;Y. Sugawara
  • 通讯作者:
    J. Yamanishi;T. Tokuyama;Y. Naitoh;Y. Li;Y. Sugawara
大阪大学大学院工学研究科精密科学・応用物理学専攻ナノ物性工学領域
大阪大学大学院工学研究科精密科学与应用物理系
  • DOI:
  • 发表时间:
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
  • 通讯作者:
Atomic resolution imaging of topography and optical near-field on insulating surface
绝缘表面形貌和光学近场的原子分辨率成像
  • DOI:
  • 发表时间:
    2015
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    J. Yamanishi;Y. Naitoh;Y. J. Li;Y. Sugawara
  • 通讯作者:
    Y. Sugawara
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