Measurement conditions of atomic-resolution optical imaging in near-field scanning optical microscopy using the force detection
使用力检测的近场扫描光学显微镜原子分辨率光学成像的测量条件
基本信息
- 批准号:26600013
- 负责人:
- 金额:$ 2.5万
- 依托单位:
- 依托单位国家:日本
- 项目类别:Grant-in-Aid for Challenging Exploratory Research
- 财政年份:2014
- 资助国家:日本
- 起止时间:2014-04-01 至 2016-03-31
- 项目状态:已结题
- 来源:
- 关键词:
项目摘要
项目成果
期刊论文数量(15)
专著数量(0)
科研奖励数量(0)
会议论文数量(0)
专利数量(0)
Surface Potential Measurement of TiO2(110) by Using Atomic Force microscopy (AFM)/Kelvin Probe Force Microscopy (KPFM)
使用原子力显微镜 (AFM)/开尔文探针力显微镜 (KPFM) 测量 TiO2(110) 的表面电位
- DOI:
- 发表时间:2014
- 期刊:
- 影响因子:0
- 作者:Y. Sugawara;L. Kou;R. Kanbarashi;H. F. Wen and Y. J. Li
- 通讯作者:H. F. Wen and Y. J. Li
Vertical atomic manipulation with dynamic atomic-force microscopy without tip change via a multi-step mechanism
- DOI:10.1038/ncomms5476
- 发表时间:2014-07
- 期刊:
- 影响因子:16.6
- 作者:J. Bamidele;Seung Hwan Lee;Y. Kinoshita;R. Turanský;Y. Naitoh;Y. Li;Y. Sugawara;I. Štich;L. Kantorovich
- 通讯作者:J. Bamidele;Seung Hwan Lee;Y. Kinoshita;R. Turanský;Y. Naitoh;Y. Li;Y. Sugawara;I. Štich;L. Kantorovich
Distance dependence of atomic-resolution near-field imaging on α-Al2O3 (0001) surface with respect to surface photovoltage of silicon probe tip
- DOI:10.1007/s12274-015-0934-4
- 发表时间:2016-02
- 期刊:
- 影响因子:9.9
- 作者:J. Yamanishi;T. Tokuyama;Y. Naitoh;Y. Li;Y. Sugawara
- 通讯作者:J. Yamanishi;T. Tokuyama;Y. Naitoh;Y. Li;Y. Sugawara
Atomic resolution imaging of topography and optical near-field on insulating surface
绝缘表面形貌和光学近场的原子分辨率成像
- DOI:
- 发表时间:2015
- 期刊:
- 影响因子:0
- 作者:J. Yamanishi;Y. Naitoh;Y. J. Li;Y. Sugawara
- 通讯作者:Y. Sugawara
{{
item.title }}
{{ item.translation_title }}
- DOI:
{{ item.doi }} - 发表时间:
{{ item.publish_year }} - 期刊:
- 影响因子:{{ item.factor }}
- 作者:
{{ item.authors }} - 通讯作者:
{{ item.author }}
数据更新时间:{{ journalArticles.updateTime }}
{{ item.title }}
- 作者:
{{ item.author }}
数据更新时间:{{ monograph.updateTime }}
{{ item.title }}
- 作者:
{{ item.author }}
数据更新时间:{{ sciAawards.updateTime }}
{{ item.title }}
- 作者:
{{ item.author }}
数据更新时间:{{ conferencePapers.updateTime }}
{{ item.title }}
- 作者:
{{ item.author }}
数据更新时间:{{ patent.updateTime }}
SUGAWARA YASUHIRO其他文献
SUGAWARA YASUHIRO的其他文献
{{
item.title }}
{{ item.translation_title }}
- DOI:
{{ item.doi }} - 发表时间:
{{ item.publish_year }} - 期刊:
- 影响因子:{{ item.factor }}
- 作者:
{{ item.authors }} - 通讯作者:
{{ item.author }}
{{ truncateString('SUGAWARA YASUHIRO', 18)}}的其他基金
Imaging mechanism for molecules by optical near-field microscopy using force detection
使用力检测的光学近场显微镜对分子的成像机制
- 批准号:
16K13616 - 财政年份:2016
- 资助金额:
$ 2.5万 - 项目类别:
Grant-in-Aid for Challenging Exploratory Research
Assembly and charge transfer mechanism of nanostructures on insulator surfaces using atomic force microscopy
使用原子力显微镜研究绝缘体表面纳米结构的组装和电荷转移机制
- 批准号:
25246027 - 财政年份:2013
- 资助金额:
$ 2.5万 - 项目类别:
Grant-in-Aid for Scientific Research (A)
High Sensitive and High Resolution Imaging of Magnetic Exchange Force Microscopy Using Ferromagnetic Resonance
使用铁磁共振的磁交换力显微镜的高灵敏度和高分辨率成像
- 批准号:
24656035 - 财政年份:2012
- 资助金额:
$ 2.5万 - 项目类别:
Grant-in-Aid for Challenging Exploratory Research
相似海外基金
走査プローブ顕微鏡を用いた異種分子接合における界面電子状態に関する研究
使用扫描探针显微镜研究异质分子连接中的界面电子态
- 批准号:
10J56432 - 财政年份:2010
- 资助金额:
$ 2.5万 - 项目类别:
Grant-in-Aid for JSPS Fellows
電気化学高速走査プローブ顕微鏡による固液界面反応の原子レベルダイナミクスの解明
使用电化学高速扫描探针显微镜阐明固液界面反应的原子级动力学
- 批准号:
21750002 - 财政年份:2009
- 资助金额:
$ 2.5万 - 项目类别:
Grant-in-Aid for Young Scientists (B)
走査プローブ顕微鏡と蛍光相関分光法による生細胞界面の1分子ダイナミクスの研究
使用扫描探针显微镜和荧光相关光谱研究活细胞界面的单分子动力学
- 批准号:
20050001 - 财政年份:2008
- 资助金额:
$ 2.5万 - 项目类别:
Grant-in-Aid for Scientific Research on Priority Areas
速度分解励起原子衝突イオン化電子分光法と走査プローブ顕微鏡による表面反応ダイナミクスの解明
使用速率分辨激发原子碰撞电离电子能谱和扫描探针显微镜阐明表面反应动力学
- 批准号:
04F04384 - 财政年份:2004
- 资助金额:
$ 2.5万 - 项目类别:
Grant-in-Aid for JSPS Fellows
時間分解走査プローブ顕微鏡による界面ダイナミクスの研究
使用时间分辨扫描探针显微镜研究界面动力学
- 批准号:
15033273 - 财政年份:2003
- 资助金额:
$ 2.5万 - 项目类别:
Grant-in-Aid for Scientific Research on Priority Areas
走査プローブ顕微鏡と和周波分光によるアナターゼおよびルチル光励起表面の観察
使用扫描探针显微镜和和频光谱观察锐钛矿和金红石光激发表面
- 批准号:
15033277 - 财政年份:2003
- 资助金额:
$ 2.5万 - 项目类别:
Grant-in-Aid for Scientific Research on Priority Areas
走査プローブ顕微鏡を用いた単一分子の電気伝導度測定
使用扫描探针显微镜测量单分子电导率
- 批准号:
00J81805 - 财政年份:2001
- 资助金额:
$ 2.5万 - 项目类别:
Grant-in-Aid for JSPS Fellows
走査プローブ顕微鏡によるDNAネットワークの形成・観察とDNA分子素子の創成
使用扫描探针显微镜形成和观察 DNA 网络以及创建 DNA 分子元件
- 批准号:
01F00505 - 财政年份:2001
- 资助金额:
$ 2.5万 - 项目类别:
Grant-in-Aid for JSPS Fellows
走査プローブ顕微鏡によるリラクサーヘテロ構造の研究
使用扫描探针显微镜研究弛豫异质结构
- 批准号:
13740184 - 财政年份:2001
- 资助金额:
$ 2.5万 - 项目类别:
Grant-in-Aid for Young Scientists (B)
走査プローブ顕微鏡によるモリブデンカーバイド単結晶表面の新規反応性に関する研究
扫描探针显微镜研究碳化钼单晶表面的新型反应性
- 批准号:
12042224 - 财政年份:2000
- 资助金额:
$ 2.5万 - 项目类别:
Grant-in-Aid for Scientific Research on Priority Areas (A)