Assembly and charge transfer mechanism of nanostructures on insulator surfaces using atomic force microscopy
使用原子力显微镜研究绝缘体表面纳米结构的组装和电荷转移机制
基本信息
- 批准号:25246027
- 负责人:
- 金额:$ 25.13万
- 依托单位:
- 依托单位国家:日本
- 项目类别:Grant-in-Aid for Scientific Research (A)
- 财政年份:2013
- 资助国家:日本
- 起止时间:2013-04-01 至 2016-03-31
- 项目状态:已结题
- 来源:
- 关键词:
项目摘要
项目成果
期刊论文数量(30)
专著数量(0)
科研奖励数量(0)
会议论文数量(0)
专利数量(0)
Distance dependence of atomic-resolution near-field imaging on α-Al2O3 (0001) surface with respect to surface photovoltage of silicon probe tip
- DOI:10.1007/s12274-015-0934-4
- 发表时间:2016-02
- 期刊:
- 影响因子:9.9
- 作者:J. Yamanishi;T. Tokuyama;Y. Naitoh;Y. Li;Y. Sugawara
- 通讯作者:J. Yamanishi;T. Tokuyama;Y. Naitoh;Y. Li;Y. Sugawara
Surface Potential Clarification by Non-Feedback Kelvin Probe Force Microscopy
通过无反馈开尔文探针力显微镜澄清表面电势
- DOI:
- 发表时间:2013
- 期刊:
- 影响因子:0
- 作者:L. Kou;R. Kanbayashi;Z. Ma;Y. Naitoh;Y. J. Li Y. Sugawara
- 通讯作者:Y. J. Li Y. Sugawara
Atomic resolution imaging of topography and optical near-field on the sapphire α-Al2O3 (0001) surface
蓝宝石 α-Al2O3 (0001) 表面形貌和光学近场的原子分辨率成像
- DOI:
- 发表时间:2015
- 期刊:
- 影响因子:0
- 作者:Y. Sugawara;J. Yamanishi;Y. Naitoh;Y. J. Li
- 通讯作者:Y. J. Li
Atomic-Resolution Imaging of the Optical Near Field Based on the Surface Photovoltage of a Silicon Probe Tip
- DOI:10.1103/physrevapplied.3.044020
- 发表时间:2015-04
- 期刊:
- 影响因子:4.6
- 作者:Y. Sugawara;J. Yamanishi;T. Tokuyama;Y. Naitoh;Y. Li
- 通讯作者:Y. Sugawara;J. Yamanishi;T. Tokuyama;Y. Naitoh;Y. Li
Magnetic force microscopy using tip magnetization modulated by ferromagnetic resonance
- DOI:10.1088/0957-4484/26/12/125701
- 发表时间:2015-03
- 期刊:
- 影响因子:3.5
- 作者:Eiji Arima;Y. Naitoh;Yan Jun Li;S. Yoshimura;H. Saito;H. Nomura;R. Nakatani;Y. Sugawara
- 通讯作者:Eiji Arima;Y. Naitoh;Yan Jun Li;S. Yoshimura;H. Saito;H. Nomura;R. Nakatani;Y. Sugawara
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$ 25.13万 - 项目类别:
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$ 25.13万 - 项目类别:
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