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A novel scheme of structure reliability for polymer MEMS and stress sensing by mechanoluminescence

聚合物 MEMS 结构可靠性和机械发光应力传感的新方案

基本信息

批准号：
16K13651
负责人：
Shoji Kamiya
金额：
$ 2.41万
依托单位：
Nagoya Institute of Technology
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Challenging Exploratory Research
财政年份：
2016
资助国家：
日本
起止时间：
2016-04-01 至 2019-03-31
项目状态：
已结题

来源：
https://kaken.nii.ac.jp/en/grant/KAKENHI-PROJECT-16K13651/
关键词：
有機薄膜トランジスタフレキシブルデバイス曲げ試験電気特性変動電子顕微鏡その場観察応力発光体曲げ疲労試験電子顕微鏡観察銀ナノ粒子インク配線プリンテッドエレクトロニクス有機トランジスタフレキシブルエレクトロニクス有機半導体

项目摘要

项目成果

期刊论文数量（7）

专著数量（0）

科研奖励数量（0）

会议论文数量（0）

专利数量（0）

レキシブル基板上に印刷された銀粒子配線の曲げ疲労損傷挙動とその評価

柔性基板上银粒子布线的弯曲疲劳损伤行为及评价

DOI：
发表时间：
2018
期刊：
影响因子：
0
作者：
神谷庄司;泉隼人;関根智仁;杉山裕子;芳賀康子;宍戸信之;小金丸正明
通讯作者：
小金丸正明

印刷有機薄膜トランジスタの曲げ変形による損傷と電気特性変動

印刷有机薄膜晶体管弯曲变形造成的损伤和电性能变化

DOI：
发表时间：
2018
期刊：
影响因子：
0
作者：
宍戸信之;泉隼人;関根智仁;杉山裕子;神谷庄司;小金丸正明
通讯作者：
小金丸正明

フレキシブル有機トランジスタの曲げ変形による性能劣化モードのその場観察

柔性有机晶体管弯曲变形引起的性能退化模式的原位观察

DOI：
发表时间：
2017
期刊：
影响因子：
0
作者：
宍戸信之;末松祐一;泉隼人;神谷庄司
通讯作者：
神谷庄司

曲げ試験による有機薄膜トランジスタの信頼性評価

通过弯曲试验评价有机薄膜晶体管的可靠性

DOI：
发表时间：
2016
期刊：
影响因子：
0
作者：
宍戸信之;末松祐一;神谷庄司
通讯作者：
神谷庄司

A novel scheme of characterization for performance deterioration behavior of flexible devices under bending deformation

弯曲变形下柔性器件性能劣化行为表征的新方案

DOI：
发表时间：
2019
期刊：
影响因子：
0
作者：
S. Kamiya;H. Izumi;T. Sekine;N. Shishido;H. Sugiyama;Y. Haga;T. Minari;M. Koganemaru;S. Tokito
通讯作者：
S. Tokito

DOI：
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作者：
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作者：
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作者：
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Shoji Kamiya其他文献

Accuracy of the Fatigue Lifetime of Polysilicon Predicted from its Strength Distribution

根据强度分布预测多晶硅疲劳寿命的准确性

DOI：
发表时间：
2010
期刊：
Mater. Res. Soc. Symp. Proc
影响因子：
0
作者：
Vu Le Huy;Joao Gaspar;Oliver Paul;Shoji Kamiya
通讯作者：
Shoji Kamiya

Electronic properties of dislocations introduced mechanically at room temperature on a single crystal silicon surface

室温下机械引入单晶硅表面位错的电子特性

DOI：
发表时间：
期刊：
Physica B
影响因子：
2.8
作者：
Masatoshi Ogawa;Shoji Kamiya;Hayato Izumi;Yutaka Tokuda;Physica B
通讯作者：
Physica B

Fatigue failure and fracture surface analysis of single crystal silicon exposed to oxygen, hydrogen and humidity air environment

单晶硅在氧、氢及潮湿空气环境下的疲劳失效及断口分析

DOI：
发表时间：
2014
期刊：
影响因子：
0
作者：
Arasu Udhayakumar;Shoji Kamiya;Hayato Izumi;Nobuyuki Shishido
通讯作者：
Nobuyuki Shishido

Electronic properties of dislocations infroduced mechanically at room temperature on a single crystal silicon substrate

室温下在单晶硅衬底上机械产生的位错的电子特性

DOI：
发表时间：
2012
期刊：
Physica B
影响因子：
2.8
作者：
Masatoshi Ogawa;Shoji Kamiya;Hayato Izumi;Yutaka Tokuda
通讯作者：
Yutaka Tokuda

シリコンの疲労メカニズムの描像を目的としたSEM内疲労試験の試み

尝试在 SEM 中进行疲劳测试，旨在描绘硅的疲劳机制

DOI：
发表时间：
2010
期刊：
影响因子：
0
作者：
Masatoshi Ogawa;Shoji Kamiya;Hayato Izumi Yutaka Tokuda;神谷庄司,池田祐介,石川正芳,泉隼人ジョアオガスパー,オリバーポール;平井隆太郎,梅原徳次,月山陽介,泉隼人,神谷庄司
通讯作者：
平井隆太郎,梅原徳次,月山陽介,泉隼人,神谷庄司