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表面状態分析用試料導入装置の製作とX線光電子スペクトル法による固体表面状態分析法の研究

表面状態分析用試料導入装置の製作とX線光電子スペクトル法による固体表面状態分析法の研究
表面态分析进样装置的制作及X射线光电子能谱固体表面态分析方法的研究
批准号：
X00120----085057
负责人：
二瓶 好正
金额：
$1.28万
依托单位：
The University of Tokyo
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Developmental Scientific Research
财政年份：
1975
资助国家：
日本
项目状态：
已结题
起止时间：
1975 至 --
来源：
https://kaken.nii.ac.jp/en/grant/KAKENHI-PROJECT-X00120----085057/
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高速・時間分解X線光電子分光/回折による表面自己組織化のダイナミクスの解明
  • 批准号：
    17034058
  • 项目类别：
    Grant-in-Aid for Scientific Research on Priority Areas
  • 资助金额：
    $1.86万
  • 财政年份：
    2005
  • 负责人：
    二瓶 好正
  • 依托单位：
    Tokyo University of Science
微分光電子ホログラフィーによる熱電子放出材料等の表面構造と高温物性に関する研究
  • 批准号：
    17656018
  • 项目类别：
    Grant-in-Aid for Exploratory Research
  • 资助金额：
    $2.18万
  • 财政年份：
    2005
  • 负责人：
    二瓶 好正
  • 依托单位：
    Tokyo University of Science
人間-環境系研究のための計測評価法の開発と応用
  • 批准号：
    04202115
  • 项目类别：
    Grant-in-Aid for Scientific Research on Priority Areas
  • 资助金额：
    $5.12万
  • 财政年份：
    1992
  • 负责人：
    二瓶 好正
  • 依托单位：
    The University of Tokyo
人間ー環境系研究のための計測評価法の開発と応用
  • 批准号：
    03202114
  • 项目类别：
    Grant-in-Aid for Scientific Research on Priority Areas
  • 资助金额：
    $4.99万
  • 财政年份：
    1991
  • 负责人：
    二瓶 好正
  • 依托单位：
    The University of Tokyo