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光電子回折を用いた新しい表層状態分析法の研究

光電子回折を用いた新しい表層状態分析法の研究
光电子衍射表面态分析新方法研究
批准号：
56470055
负责人：
二瓶 好正
金额：
$4.22万
依托单位：
The University of Tokyo
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for General Scientific Research (B)
财政年份：
1981
资助国家：
日本
项目状态：
已结题
起止时间：
1981 至 1982
来源：
https://kaken.nii.ac.jp/en/grant/KAKENHI-PROJECT-56470055/
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高速・時間分解X線光電子分光/回折による表面自己組織化のダイナミクスの解明
  • 批准号：
    17034058
  • 项目类别：
    Grant-in-Aid for Scientific Research on Priority Areas
  • 资助金额：
    $1.86万
  • 财政年份：
    2005
  • 负责人：
    二瓶 好正
  • 依托单位：
    Tokyo University of Science
微分光電子ホログラフィーによる熱電子放出材料等の表面構造と高温物性に関する研究
  • 批准号：
    17656018
  • 项目类别：
    Grant-in-Aid for Exploratory Research
  • 资助金额：
    $2.18万
  • 财政年份：
    2005
  • 负责人：
    二瓶 好正
  • 依托单位：
    Tokyo University of Science
人間-環境系研究のための計測評価法の開発と応用
  • 批准号：
    04202115
  • 项目类别：
    Grant-in-Aid for Scientific Research on Priority Areas
  • 资助金额：
    $5.12万
  • 财政年份：
    1992
  • 负责人：
    二瓶 好正
  • 依托单位：
    The University of Tokyo
人間ー環境系研究のための計測評価法の開発と応用
  • 批准号：
    03202114
  • 项目类别：
    Grant-in-Aid for Scientific Research on Priority Areas
  • 资助金额：
    $4.99万
  • 财政年份：
    1991
  • 负责人：
    二瓶 好正
  • 依托单位：
    The University of Tokyo