近接場光学顕微鏡による色素微粒子の研究

利用近场光学显微镜研究颜料颗粒

• 批准号: 10740143
• 负责人: 田丸 博晴
• 金额: $ 1.54万
• 依托单位: The University of Tokyo
• 依托单位国家: 日本
• 项目类别: Grant-in-Aid for Encouragement of Young Scientists (A)
• 财政年份: 1998
• 资助国家: 日本
• 起止时间: 1998 至 1999
• 项目状态: 已结题
• 来源: https://kaken.nii.ac.jp/en/grant/KAKENHI-PROJECT-10740143/
• 关键词: 近接場光学顕微鏡; 禁制光; 微小球; 表面プラズモン; 近接場光学; WGモード

会合体をなす色素の結晶では結晶の大きさが励起子の遍歴の大きさ程度以下になると遍歴による安定化が制限され、サイズ効果を示すようになる。また、粒子境界の空間的な制限によるモードの影響も現れることが予想される。近接場光学顕微鏡を用いるとこのような系について物体のトポグラフィーを確認しつつ波長よりも小さな分解能で光照射を行うことが可能である。本研究で上の目的を達成するために、基板に張りついていないような、数μmスケールで高いアスペクト比をもつ物体を安定・高速にスキャンすることの出来る近接場光学顕微鏡の開発をおこなった。Μmスケールでは大きな物体ほど基板への吸着力が弱くなり安定なスキャンが困難になるが、球径1,3,5μmの微小球について単体および配列状態について、球を「掃いて」しまうことなく安定に測定できるようになった。また、可視領域で波長幅0.03nm以下のCWレーザーを用いて分光を行なうことにより、微小球の空間的閉じ込めモードであるWhispering Gallaryモードの波長および空間分布の測定を行なった。その結果、球径3μmの微小球については、波長幅1nm程度の鋭い共鳴が観られ、また、球が配列すうとその空間パターンは配列の対称性にしたがって変化する様子が観察された。このような像の解釈をより的確に行なうため、測定装置を改良し検出光の出射方位(波数ベクトルに相当)を選択する仕組みを採り入れた。この測定系の性能確認を兼ねて銀表面に近接場光学顕微鏡のプローブで励起した表面プラズモンからの放射を測定をおこなった。予想される特性方向に強い放射が観られ、またその空間分布からその伝搬長は、これまでATR測定などで調べられてきた値よりも大きい可能性があることを見出した。

The crystal size of the pigment is less than that of the excitation, and the stability of the pigment is limited. The influence of particle boundary space on particle boundary is considered. Near-field optical micromirrors can be used to identify the wavelength of an object and to decompose the energy of light. This study aims to achieve the above objectives: substrate tension, high ratio, stable object, high speed, and development of near-field optical micromirrors. The absorption force of large objects and substrates is weak, stable and difficult, and the particles with a diameter of 1, 3 and 5 μm are separated from the single body and arranged in a state of "sweep" and "stability". Measurement of wavelength and spatial distribution of CW light with wavelength amplitude below 0.03 nm in visible field As a result, the spherical diameter of 3μm in the middle, wavelength amplitude of 1nm in the sharp resonance, the spherical alignment, the spatial alignment, the symmetry, the particle alignment, the observation. The measurement device is improved, and the emission direction of the emitted light (wave number corresponding) is selected. This measurement system is used to confirm the performance of near-field optical micromirrors on silver surfaces. For example, if you want to determine the direction of the characteristic, the intensity of the emission, the spatial distribution of the emission, the length of the emission, and the probability of the emission, you can see it.