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顕微光散乱によるゲルに特異なパターンの内部構造の研究

利用显微光散射研究凝胶特定图案的内部结构

基本信息

批准号：
12750793
负责人：
古川英光
金额：
$ 1.28万
依托单位：
Tokyo Institute of Technology
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Encouragement of Young Scientists (A)
财政年份：
2000
资助国家：
日本
起止时间：
2000 至 2001
项目状态：
已结题

项目摘要

1.精密な温度可変装置の作製走査型顕微光散乱装置を用いて、膨潤相と収縮相のドメインが共存する状態において、両相を同時測定するために、従来よりも大型の恒温セルを作製した。このセルを用いれば、直径10mm、長さ50mmまでの円柱状ゲルの測定が可能である。このセルの内部に白金抵抗体を取り付け、精密に測温並びに温調を行い、設定精度として±0.02℃、安定時の精度として±0.005℃を実現した。また、既存の小型恒温セルの改良も行い、片方の相のみの観察に限られるが、市販品では容易に到達できない精度として0.001℃以下の安定度を実現した。これにより、体積相転移点のごく近傍における測定が可能になった。2.走査型顕微光散乱を用いた共存ドメイン構造内部の不均一性と拡散係数の直接測定体積相転移を起こすN-イソプロピルアクリルアミドゲルを、相共存が生じ易い網目構造ができるような条件を探し、その条件下で調製した。走査型顕微光散乱装置を用いて調製したゲルの収縮相について詳細に調べ、これまで全く報告例の無い、動的な揺らぎの位置依存性を定量的に測定した。また、温度感応性の高い、グラフト鎖をもつゲルを新規に合成した。これを動的光散乱で測定し、ノーマルなゲルにはみられない遅い緩和モードを測定した。この測定結果は高速収縮メカニズムの解明につながると考えられ、現在も詳細な測定を継続している。

1. The precision temperature variable device is operated by a low light scattering device, which is used for measuring the temperature of a liquid crystal, an expansion phase, a contraction phase, and a simultaneous measurement of the temperature of a liquid crystal. The diameter of this column is 10mm and the length is 50 mm. It is possible to measure this column. The internal platinum resistance is selected, the temperature measurement and temperature adjustment are accurately performed, the setting accuracy is ±0.02℃, and the stability accuracy is ±0.005℃. The stability of the existing small thermostat can be achieved with an accuracy of less than 0.001℃. The measurement of the phase shift point of the volume is possible. 2. To investigate the heterogeneity and dispersion coefficient in the structure of low-light scattering, to determine the phase shift of the volume directly, to start the N-type scattering, to explore the conditions under which the phase shift occurs, and to modulate the structure of the mesh under the same conditions. A detailed investigation of the modulation and phase reduction of a walk-through micro-light scattering device is carried out, and a quantitative measurement of the position-dependence of the non-moving micro-light scattering device is carried out. High temperature sensitivity, high temperature sensitivity, high temperature The light scattering of this kind of motion is measured, and the light scattering of this kind of motion is measured. The results of this measurement are as follows: high-speed measurement, high-speed measurement