極高温用GaN/AlGaNヘテロ構造ホール素子の作製と応用

极高温GaN/AlGaN异质结构霍尔元件的制备及应用

基本信息

  • 批准号:
    17656107
  • 负责人:
  • 金额:
    $ 2.11万
  • 依托单位:
  • 依托单位国家:
    日本
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for Exploratory Research
  • 财政年份:
    2005
  • 资助国家:
    日本
  • 起止时间:
    2005 至 2006
  • 项目状态:
    已结题

项目摘要

次世代の高保磁力永久磁石、超高密度磁気記録技術及び「スピンエレクトロニクス」等の新分野の研究には、磁性体特有のキュリー温度(Tc)の測定が非常に重要である。現在、磁性体のTcの測定は通常、振動試料型磁力計(VSM)装置を使って行われている。しかし、VSMによるTcの測定の難点として、(1)試料全体の平均的な値しか得られない;(2)熱電対と試料が離れているため、試料の正確な温度測定ができずTcの値に誤差(±20%)が生じる;(3)VSM装置は複雑な仕組みで操作が困難である;(4)VSM装置は高価(〜2000万円)である、等が挙げられる。そこで、申請者はVSM装置ではなく、Tcをホール素子により測定する方法を提案した。しかし従来のホール素子の材料であるGaAs、 InSb等の半導体は、温度変化により、磁界に対する出力であるホール電圧が変化するという問題がある。そこで、本研究ではホール素子に用いる半導体材料として二次元電子ガスを有するGaN/AlGaNヘテロ構造に着目し、ホール電圧の温度変化が極めて小さいホール素子の作製を目的とする。平成18年度の研究予定は実際に極高温で安定な動作する50〜100μm角のGaN/AlGaNホール素子の応用として、高温におけるBaフェライトの磁化曲線(キュリー温度)の測定を行った。通常のVSM測定はマクロ的であり、GaN/AlGaNホール素子を用いた測定は局所的な情報を得ることができ、測定した円形の等方性Baフェライトのキュリー温度はVSM測定と若干異なり、460℃であることは分かった。さらに、センサ部分は2μm×2μmのSHPM用ホール素子を作製し、50μm厚のガーネットサンプルを測定し、磁区幅約10μmを有する磁区構造の観察に成功した。以上の高温におけるBaフェライトの磁化曲線の測定に成功したこと、ガーネットの磁区観察に成功したことで高温で局所的な磁界測定が可能であるを証明した。さらに約数μm角のGaN/AlGaNホール素子をSHPMに搭載し、高温で磁性体表面の熱による磁区反転・磁壁移動の観察への応用を検討した。
Next generation の hi-fi magnetic force of permanent magnet, high density magnetic 気 recording and び "ス ピ ン エ レ ク ト ロ ニ ク ス" の new eset の research に は, magnetic characteristic の キ ュ リ ー が very accurate temperature (Tc) の に important で あ る. Now, the determination of magnetic body <s:1> Tc <e:1> usually, the vibrating sample type magnetometer (VSM) device を enables って to perform われて る る る. (1) The な value of the overall <s:1> average of the test material is られな られな. (2) the thermoelectric と seaborne sample が from れ て い る た め, try の な right temperature measurement が で き ず Tc の numerical error (+ / - 20%) born が じ に る; (3) The <s:1> complex 雑な assembly of the VSM device みで is difficult to operate が である; (4)VSM device 価 high 価(~ 20 million yen)である, etc. Youdaoplaceholder2. そ こ で, applicants は VSM device で は な く, Tc を ホ ー ル element child に よ り determination す る method proposed を し た. し か し 従 to の ホ ー ル element child の material で あ る GaAs semiconductor, such as InSb の は, temperature variations に よ り, magnetic に す seaborne る output で あ る ホ ー ル electric 圧 が variations change す る と い う problem が あ る. そ こ で, this study で は ホ ー ル element child に with い る semiconductor materials と し て secondary yuan electronic ガ ス を have す る GaN/AlGaN ヘ テ ロ tectonic に on し, ホ ー ル electric 圧 の temperature variations change が extremely め て small さ い ホ ー ル element system の son を purpose と す る. Pp.47-53 18 year の study designated は be interstate に extremely high temperature で settle な action す る 50 ~ 100 microns Angle の GaN/AlGaN ホ ー ル element child の 応 with と し て, high-temperature に お け る Ba フ ェ ラ イ ト の magnetization curve (キ ュ リ ー temperature) の line measurement を っ た. The usually の VSM measurement は マ ク ロ で あ り, GaN/AlGaN ホ ー ル element child を with い た determination は bureau of な intelligence を る こ と が で き, determining し た has drifted back towards &yen; form の isotropic Ba フ ェ ラ イ ト の キ ュ リ ー temperature は VSM measurement と several different な り, 460 ℃ で あ る こ と は points か っ た. さ ら に, セ ン サ part は mu 2 m x 2 microns の SHPM with ホ ー ル system し を son, 50 microns thick の ガ ー ネ ッ ト サ ン プ ル を determination し, magnetic area of about 10 microns を have す る magnetic structure の 観 examine に success し た. High temperature above の に お け る Ba フ ェ ラ イ ト の magnetization curve の determination に successful し た こ と, ガ ー ネ ッ ト の magnetic 観 examine に success し た こ と で high-temperature で な magnetic boundary determination が bureau may で あ る を prove し た. さ ら に Angle of a few microns の GaN/AlGaN ホ ー ル element child を SHPM に carry し, high-temperature の で magnetic body surface heat に よ る magnetic inverse planning, mobile magnetic wall の 観 examine へ の 応 with を beg し 検 た.

项目成果

期刊论文数量(6)
专著数量(0)
科研奖励数量(0)
会议论文数量(0)
专利数量(0)
Variable temperature scanning Hall probe microscopy of ferromagnetic garnet thin films
铁磁石榴石薄膜的变温扫描霍尔探针显微镜
AlGaN/GaN HEMTを用いた高温用ホール素子に関する研究
使用AlGaN/GaN HEMT的高温霍尔元件研究
High Temperature Scanning Hall Probe Microscopy (HT-SHPM) using AlGaN/GaN 2DEG micro-Hall probes
使用 AlGaN/GaN 2DEG 微霍尔探针的高温扫描霍尔探针显微镜 (HT-SHPM)
High Sensitivity and Quantitative Magnetic Field Measurements at 600oC
600oC 下的高灵敏度和定量磁场测量
AlGaN/GaN系ホールプローブを用いた高温用走査型ホールプローブ顕微鏡(HT-SHPM)の開発
使用AlGaN/GaN霍尔探针开发高温扫描霍尔探针显微镜(HT-SHPM)
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