Fine texture and superstructure of minerals by ultra-high resolution TEM

超高分辨率 TEM 观察矿物的精细结构和上部结构

基本信息

  • 批准号:
    05640538
  • 负责人:
  • 金额:
    $ 1.34万
  • 依托单位:
  • 依托单位国家:
    日本
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for General Scientific Research (C)
  • 财政年份:
    1993
  • 资助国家:
    日本
  • 起止时间:
    1993 至 1994
  • 项目状态:
    已结题

项目摘要

Antigorite and cariopilite were studied with a JEOL model JEM-4000EX ultra-high resolution electron microscopy and a JEOL model JEM-2000FX analytical electron microscopy in the HVEM laboratory of Kyushu University. The JEM-4000EX used in this investigation has 0.17nm point-to-point resolution. The value is nearly equal to a Si-O or Mg-O bond length. The obtained results of antigorite by HRTEM observations as follows.(1) The optical fourie transform of the obtained HRTEM images shows the resolution of 0.20-0.15nm. The values is a similar to the resolution power of the HRTEM used in this study.(2) The through-focus series of images were not able to get because of the rapid electron beam damage.(3) The c-axis HRTEM images of the Sasaguri antigorite sample A1 are divided into two types. The first type shows continuos (200) and discontiunous (130) fringes of 0.25nm. The offsets in (130) fringeoccur along at 3.5nm seperation. The supercell periodicity corresponds to M=6.5. The second type shows (110) and (020) fringes of 0.46nm spacing and the similar offsets in (110) fringe at 3.5nm separation.(4) The above two type of images were interpreted by image simulation using multi-slice method.(5) A new superstructure, which has a C-centered space lattice was confirmed in the Sasaguri antigorite samples A1, The C-centered superstructure model that was predicted by Uehara and Shirozu (1985).(6) A new one-layr monoclinic superstructure with large beta angle of 95゚ was found in so-called "picrolite" sample S7 (Uehara and Shirozu, 1985).
用JEOL型JEM-4000EX超高分辨电子显微镜和JEOL JEM-2000FX型分析电子显微镜对九州大学高能电子显微镜实验室中的安提戈尔岩和钙闪石进行了研究。本次研究中使用的JEM-4000EX具有0.17 nm的点对点分辨率。该值几乎等于Si-O或Mg-O键长。高分辨电子显微镜观测的结果如下:(1)高分辨电子显微镜图像的傅立叶变换分辨率为0.20-0.15 nm。这些数值与本研究中使用的HRTEM的分辨率相近。(2)由于电子束的快速损伤,无法获得透焦系列图像。(3)Sasaguri反戈里岩A1样品的c轴HRTEM图像分为两种类型。第一种类型显示0.25 nm的连续(200)和不连续(130)条纹。(130)面上的偏移量出现在间隔3.5 nm处。超细胞周期对应于M=6.5。(4)用多切片方法对上述两类图像进行了图像模拟.(5)在上原和Shirozu(1985)预测的C中心超结构模型Sasaguri闪锌矿样品A1中,证实了一种新的具有C中心空间晶格的超结构.(6)在所谓的“Pmicrolite”样品S7(上原和Shirozu,1985)中发现了一种新的单层单斜超结构,其β角为95゚.

项目成果

期刊论文数量(12)
专著数量(0)
科研奖励数量(0)
会议论文数量(0)
专利数量(0)
上原誠一郎: "層状珪酸塩鉱物および関連鉱物研究における透過電子顕微鏡法" 鉱物学雑誌. 23. 11-125 (1994)
Seiichiro Uehara:“层状硅酸盐矿物和相关矿物研究中的透射电子显微镜”《矿物学杂志》23. 11-125 (1994)。
  • DOI:
  • 发表时间:
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
  • 通讯作者:
上原誠一郎: "層状珪酸塩鉱物および関連鉱物研究における透過電子顕微鏡法" 鉱物学雑誌. 23. 111-125 (1994)
Seiichiro Uehara:“层状硅酸盐矿物和相关矿物研究中的透射电子显微镜”《矿物学杂志》23. 111-125 (1994)。
  • DOI:
  • 发表时间:
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
  • 通讯作者:
Uehara,S.and Kamata,K.: "Antigorite with large supercell from Saganoseki,Oita Prefecture,Japan" Canadian Mineralogist. 32. 93-104 (1994)
Uehara,S. 和 Kamata,K.:“来自日本大分县佐贺关的含大型超级晶胞的叶蛇纹石”加拿大矿物学家。
  • DOI:
  • 发表时间:
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
  • 通讯作者:
Uehara, S: "Transmission electron microscopy applied to the studies of sheet silicates and related minerals" Journal of the Mineralogical Society of Japan. 23. 111-125 (1994)
Uehara, S:“透射电子显微镜应用于片状硅酸盐和相关矿物的研究”日本矿物学会杂志。
  • DOI:
  • 发表时间:
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  • 影响因子:
    0
  • 作者:
  • 通讯作者:
Uehara, S.and Kamata, K.: "Antigorite with large supercell from Saganoseki, Oita Prefecture, Japan." Canadian Mineralogist. 32. 93-103 (1994)
Uehara, S. 和 Kamata, K.:“来自日本大分县佐贺关的含大型超级晶胞的叶蛇纹石。”
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