良く制御された条件下での真空紫外光分解による薄膜形成初期過程の研究
良く制御された条件下での真空紫外光分解による薄膜形成初期過程の研究
批准号:
62470010
负责人:
太田 俊明
金额:
$4.16万
依托单位:
依托单位国家:
日本
项目类别:
Grant-in-Aid for General Scientific Research (B)
财政年份:
1987
资助国家:
日本
项目状态:
已结题
起止时间:
1987 至 1988
中文摘要
今年度は本研究の最終年度にあたる。主研究に関してはまだ目標に到達するまでに到っていないが、関連する分野に関していくつか発展がみられた。1.真空紫外光分解用光源の製作 光分解用に熱フィラメント方式の真空紫外放電管を作成した。これには三段の差動排気を組込み、超高真空下のUPS測定の光源にもなるように設計した。この放電管は冷陰極方式に比べて約10倍の出力を持っていることが確められた。次年度において、この光源を用いて光分解反応の実験を進める予定である。2.炭素薄膜の合成とその評価 熱フィラメントCVD法によって、原料物質のメタン濃度を変えて、各種の炭素薄膜を合成した。得られた試料はラマン、赤外、SEM、X線回折等の測定から、メタン濃度の増加に伴ってダイヤモンドからアモルファス炭素薄膜へと移行して行く過程が明らかになった。特に今回初めて、これら試料のC K内殼吸収スペクトル測定から、薄膜表面にグラファイト状炭素以外にメチレン基を持った炭素が存在していることが明らかになった。3.ジアセチレン化合物光重合過程の研究 CH_3(CH_2)_9-C〓C+C〓C-(CH_2)_8COOHの紫外光照射による光重合過程をC・K内殼吸収スペクトルの測定によって追跡した。理論計算との比較から、局在した2つの三重結合が光によって共役した二重結合と局在三重結合に変化していく様子がわかった。4.a-si薄膜の作成と評価 高周波プラズマ、DCプラズマ法によって単結晶si上にa-si薄膜の作成をいろいろな条件下で行った。現在、タイオード特性の測定から界面のSchottkyバリアの評価を行っているが、今後、1.で作製した真空紫外放電管と阻止電場型電子分光器を組合わせて、UPSの測定から界面の電子状態を調べていく予定である。
英文摘要
今年度は本研究の最終年度にあたる。主研究に関してはまだ目標に到達するまでに到っていないが、関連する分野に関していくつか発展がみられた。1.真空紫外光分解用光源の製作 光分解用に熱フィラメント方式の真空紫外放電管を作成した。これには三段の差動排気を組込み、超高真空下のUPS測定の光源にもなるように設計した。この放電管は冷陰極方式に比べて約10倍の出力を持っていることが確められた。次年度において、この光源を用いて光分解反応の実験を進める予定である。2.炭素薄膜の合成とその評価 熱フィラメントCVD法によって、原料物質のメタン濃度を変えて、各種の炭素薄膜を合成した。得られた試料はラマン、赤外、SEM、X線回折等の測定から、メタン濃度の増加に伴ってダイヤモンドからアモルファス炭素薄膜へと移行して行く過程が明らかになった。特に今回初めて、これら試料のC K内殼吸収スペクトル測定から、薄膜表面にグラファイト状炭素以外にメチレン基を持った炭素が存在していることが明らかになった。3.ジアセチレン化合物光重合過程の研究 CH_3(CH_2)_9-C〓C+C〓C-(CH_2)_8COOHの紫外光照射による光重合過程をC・K内殼吸収スペクトルの測定によって追跡した。理論計算との比較から、局在した2つの三重結合が光によって共役した二重結合と局在三重結合に変化していく様子がわかった。4.a-si薄膜の作成と評価 高周波プラズマ、DCプラズマ法によって単結晶si上にa-si薄膜の作成をいろいろな条件下で行った。現在、タイオード特性の測定から界面のSchottkyバリアの評価を行っているが、今後、1.で作製した真空紫外放電管と阻止電場型電子分光器を組合わせて、UPSの測定から界面の電子状態を調べていく予定である。
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T.Chta;K.Seki;I.Morisada;N.Kosugi;T.Usami;S.Hashimoto: Proceedings of the International Symposium on the Uses of Synchrotron Radiation in Chemistry,BNL.
T.Chta;K.Seki;I.Morisada;N.Kosugi;T.Usami;S.Hashimoto:同步辐射在化学中的应用国际研讨会论文集,BNL。
DOI:
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发表时间:
期刊:
影响因子:
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作者:
[]
通讯作者:
T.Ohta;K,Seki;M.Taniguchi;T.Yokoyama;I.Morisada;H.Tanaka;T.Usami;S.Hashimoto: Photon Factory Activity Report 1988(No.6). 6. (1988)
T.Ohta;K,Seki;M.Taniguchi;T.Yokoyama;I.Morisada;H.Tanaka;T.Usami;S.Hashimoto:光子工厂活动报告1988(第6号)。
DOI:
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发表时间:
期刊:
影响因子:
--
作者:
[]
通讯作者:
K.Seki;I.Morisada;H.Tanaka;K.Edamatsu;M.Yoshiki;Y.Takata;T.Yokoyama;M.Tamjud;T.Ohta: Photon Factory Activity Report. 6. (1988)
K.Seki;I.Morisada;H.Tanaka;K.Edamatsu;M.Yoshiki;Y.Takata;T.Yokoyama;M.Tamjud;T.Ohta:光子工厂活动报告。
DOI:
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发表时间:
期刊:
影响因子:
--
作者:
[]
通讯作者:
T.K.Sham;T.Ohta;T.Yokoyama;Y.Kitajima;M.Funabashi;N.Kosugi;H.Kuroda: J.Chem.Phys.88. 4075 (1988)
T.K.Sham;T.Ohta;T.Yokoyama;Y.Kitajima;M.Funabashi;N.Kosugi;H.Kuroda:J.Chem.Phys.88。
DOI:
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发表时间:
期刊:
影响因子:
--
作者:
[]
通讯作者:
H.Inokuti;K.Seki;N.Sato: Physica Scripta. 117. 93 (1987)
H.Inokuti;K.Seki;N.Sato:物理学。
DOI:
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发表时间:
期刊:
影响因子:
--
作者:
[]
通讯作者:
共 7 条
金属表面分子吸着構造のX線吸収微細構造分光による研究
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批准号:04F02787
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项目类别:Grant-in-Aid for JSPS Fellows
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资助金额:$0.58万
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财政年份:2004
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负责人:太田 俊明
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依托单位:
低次元ナノ材料の合成,組織化,および物性評価
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批准号:03F00274
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项目类别:Grant-in-Aid for JSPS Fellows
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资助金额:$0.38万
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财政年份:2003
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负责人:太田 俊明
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依托单位:
低次元ナノ材料の合成、組織化、および物性評価
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批准号:03F03274
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项目类别:Grant-in-Aid for JSPS Fellows
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资助金额:$1.15万
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财政年份:2003
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负责人:太田 俊明
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依托单位:
金属表面吸着分子のX線吸収スペクトルの理論的研究
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批准号:02F00787
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项目类别:Grant-in-Aid for JSPS Fellows
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资助金额:$0.9万
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财政年份:2002
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负责人:太田 俊明
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依托单位:
放射光とSTMを用いたSi上有機薄膜の構造と電子状態の研究
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批准号:00F00309
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项目类别:Grant-in-Aid for JSPS Fellows
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资助金额:$0.26万
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财政年份:2001
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负责人:太田 俊明
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依托单位:
XAFSによる疑似的電極界面構造解析-銀単結晶上の塩素・水共吸着系
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批准号:11118215
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项目类别:Grant-in-Aid for Scientific Research on Priority Areas (A)
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资助金额:$1.15万
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财政年份:1999
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负责人:太田 俊明
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依托单位:
XAFSによる電極界面構造解析・銀単結晶上の臭素吸着系を中心として
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批准号:10131214
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项目类别:Grant-in-Aid for Scientific Research on Priority Areas (A)
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资助金额:$1.15万
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财政年份:1998
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负责人:太田 俊明
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依托单位:
超軟X線励起による気体光電子スペクトルの測定およびその理論的解釈
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批准号:X00095----264139
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项目类别:Grant-in-Aid for General Scientific Research (D)
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资助金额:$0.25万
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财政年份:1977
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负责人:太田 俊明
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依托单位:
海外基金