イメ-ジングプレ-トを用いた電子顕微鏡像の定量解析

使用成像板对电子显微镜图像进行定量分析

• 批准号: 03805002
• 负责人: 進藤 大輔
• 金额: $ 0.9万
• 依托单位: Tohoku University
• 依托单位国家: 日本
• 项目类别: Grant-in-Aid for General Scientific Research (C)
• 财政年份: 1991
• 资助国家: 日本
• 起止时间: 1991 至 无数据
• 项目状态: 已结题
• 来源: https://kaken.nii.ac.jp/en/grant/KAKENHI-PROJECT-03805002/
• 关键词: イメ-ジングプレ-ト; 高分解能電顕像; 電子回折図形; 定量解析; イメ-ジシミュレ-ション

イメ-ジングプレ-トによって得られる高精度のデ-タ(2048画素×1536画素,4096階調)を処理するため、既存のパソコン及びワ-クステ-ション上に定量解析のためのソフトウェア-を開発した。これにより、logスケ-ルのオリジナルデ-タをリニア-スケ-ルに変換することができ、またバックグラウンドを除去して弱いシグナルを抽出することができるようになった。また、大型計算機を用いて計算した高分解能電子顕微鏡像のシミュレ-ション像と観察像をワ-クステ-ション上で定量的に比較することも可能となった。このようなソフトウェア-の完成により、これまで定性的な評価に留まっていた電子顕微鏡による解析が、定量的に行うことが可能となった。具体的な成果は以下の通りである。1.温度変化に伴う合金の規則格子反射強度変化を定量的に測定し、その規則度に関する知見を電子回折図形から定量的に明らかにした。2.高温超伝導体に属する新しい化合物Pb(Ba,Sr)_2(Eu,Ce)_2Cu_3Oyの構造を、イメ-ジングプレ-トを用いた高分解能電子顕微鏡法により明らかにした。3.これまで解析のできなかった化合物半導体Ga_<0.5>In_<0.5>Pの複雑な短範囲規則配列を高分解能電子顕微鏡法と電子回折図形を併用した定量的な解析により明らかにした。上記の成果は、裏面に挙げた論文にまとめられている。なお、上記3の成果は、第42回金属学会金属組織写真佳作賞を受けることとなった('92.4.1受賞式)。現在、本研究をさらに発展させ、新しい超高圧電子顕微鏡にイメ-ジングプレ-トを導入し、高精度での定量解析を進めている。

The precision of the system (2048 pixels x 1536 pixels, 4096 pixels) is analyzed in terms of the precision, the existing resolution, and the quantitative analysis of the data. In the first place, there was a slight increase in the number of cases in which the weak was removed, and the weak was extracted. The computer and large-scale computer systems are used to calculate the accuracy of the micro-image of the high decomposition energy computer. It is necessary to complete the qualitative analysis, quantitative analysis and quantitative analysis of microcomputers. The specific "results" are listed below. 1. Temperature hardening with alloy rules lattice reflection strength strengthening quantitative measurement, mechanical specification measurement, temperature regulation, temperature reduction, temperature aging, lattice reflection, strength, strength, temperature, strength, reflectance, strength, strength, temperature, strength, reflection, strength, temperature, strength, reflection strength, temperature, temperature, two。 High temperature superalloy is a new compound Pb (Ba,Sr) _ 2 (Eu,Ce) _ 2Cu_3Oy, which has been fabricated and characterized by high decomposition energy electron microanalysis. 3. To analyze the chemical compound half-body Ga_<0.5>In_<0.5>P copy the short-term rule and arrange the high decomposition energy micrometer method to analyze the electron back-to-back shape with the quantitative analysis method. In the last part of the book, you will learn about the results and the results of the study. In the last three years, the 42nd edition of the Metal Organization of the Institute of Metals, the excellent work of the Metal Organization of the Institute of Metals was honored ('92.4.1). At present, in this study, the exhibition of ultra-high-speed electronics, the new ultra-high-power electronics micro-electronics, the high-precision quantitative analysis and the analysis of high-precision electronic devices.

项目成果

工藤 純一: "高性能電子顕微鏡画像の多次元的画像解析" 「画像電子学会誌」.

工藤淳一：《高性能电子显微镜图像的多维图像分析》《图像电子工程师学会杂志》。

D.Shindo: "ShorTーrange ordered structure of Ga_<0.5> In_<0.5> P muestigated by electron microscopy"

D. Shindo：“通过电子显微镜观察 Ga_<0.5> In_<0.5> P 的短程有序结构”

進藤 大輔: "イメ-ジングプレ-トを用いた電子顕微鏡像の定量解析" 日本金属学会会報. 30. 809-816 (1991)

Daisuke Shindo：“使用成像板对电子显微镜图像进行定量分析”日本金属研究所公告 30. 809-816 (1991)。

D.Shindo: "Quantification in highーresofution electron microscopy with the imaging plate" Ultramicroscopy. 39. 50-57 (1991)

D. Shindo：“使用成像板进行高分辨率电子显微镜定量”Ultramicroscopy. 39. 50-57 (1991)。

D.Shindo: "Characterigation of HighーTc Superconductors by HighーResolution and Analytical Electron Microscopy" JJAP Series7 Mechanisms of Superconductionity 1992. 51-54 (1992)

D. Shindo：“通过高分辨率和分析电子显微镜表征高温超导体” JJAP Series7 超导机制 1992. 51-54 (1992)