Bi-Sb合金の高電場效果と電子正孔プラズマの生成
Bi-Sb合金の高電場效果と電子正孔プラズマの生成
批准号:
X00095----964053
负责人:
服部 健雄
金额:
$0.2万
依托单位国家:
日本
项目类别:
Grant-in-Aid for General Scientific Research (D)
财政年份:
1974
资助国家:
日本
项目状态:
已结题
起止时间:
1974 至 --
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会议论文
断面光電子分光法による非晶質シリコン酸化膜の組成および結合状態密度の深さ方向分析
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批准号:13025243
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项目类别:Grant-in-Aid for Scientific Research on Priority Areas
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资助金额:$26.94万
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财政年份:2001
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负责人:服部 健雄
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依托单位:
その場観察用X線光電子分光分析器の開発とシリコン酸化・窒化極薄膜の形成機構の解明
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批准号:01065003
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项目类别:Grant-in-Aid for Specially Promoted Research
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资助金额:$153.6万
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财政年份:1989
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负责人:服部 健雄
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依托单位:
超ULSIのための高品質SiO_2極薄膜の作成とSiO_2/Si界面の極微細構造評価
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批准号:62460062
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项目类别:Grant-in-Aid for General Scientific Research (B)
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资助金额:$4.42万
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财政年份:1988
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负责人:服部 健雄
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依托单位:
極微構造における電子現象の基礎的研究
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批准号:59103012
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项目类别:Grant-in-Aid for Special Project Research
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资助金额:$5.44万
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财政年份:1984
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负责人:服部 健雄
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依托单位:
検出深さの大きい光電子分光法を用いた極微細構造における電子状態の非破壊測定の研究
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批准号:58209041
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项目类别:Grant-in-Aid for Special Project Research
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资助金额:$2.56万
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财政年份:1983
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负责人:服部 健雄
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依托单位:
検出深さの大きい光電子分光法に用いた極微細構造における電子状態の非破壊測定の研究
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批准号:57217037
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项目类别:Grant-in-Aid for Special Project Research
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资助金额:$3.84万
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财政年份:1982
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负责人:服部 健雄
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依托单位:
Bi 微粒子を分散した絶縁性薄膜の物性測定と高速応答光検出器への応用に関する研究
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批准号:57460057
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项目类别:Grant-in-Aid for General Scientific Research (B)
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资助金额:$4.61万
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财政年份:1982
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负责人:服部 健雄
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依托单位:
Bi-Sr合金系における電子正孔の再結合
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批准号:X00095----064192
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项目类别:Grant-in-Aid for General Scientific Research (D)
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资助金额:$0.29万
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财政年份:1975
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负责人:服部 健雄
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依托单位: