Development of bio-microwave atomic force microscopy and noninvasive measurement of cell activity

生物微波原子力显微镜和细胞活性无创测量的发展

• 批准号: 20246028
• 负责人: JU Yang
• 金额: $ 30.78万
• 依托单位: Nagoya University
• 依托单位国家: 日本
• 项目类别: Grant-in-Aid for Scientific Research (A)
• 财政年份: 2008
• 资助国家: 日本
• 起止时间: 2008 至 2010
• 项目状态: 已结题
• 来源: https://kaken.nii.ac.jp/en/grant/KAKENHI-PROJECT-20246028/
• 关键词: マイクロ波; 原子間力顕微鏡; AFMプローブ; 電気的特性; 細胞計測; 骨髄幹細胞; 非侵襲計測; 細胞活性; 微細加工; 生体計測; ナノ領域

A novel microscopy which is capable of investigating surface topography and electrical property of cells simultaneously on a sub-nanometer scale was developed. The microwave atomic force microscopy(M-AFM) is a combination of the principles of the scanning probe microscope and the microwave-measurement technique. The waveguide structure of the M-AFM probe allows microwave signals to propagate through the probe and emit from the tip of it. Based on the theoretical analysis and the measured amplitude and phase information of microwave signals, M-AFM can implement the quantitative characterization of the local conductivity and permittivity of cells on the sub-nanometer scale.

发展了一种能够同时在亚纳米尺度上研究细胞表面形貌和电学性质的新型显微镜。微波原子力显微镜(M-AFM)是扫描探针显微镜原理和微波测量技术的结合。M-AFM探头的波导结构允许微波信号通过探头传播并从探头的尖端发射。基于理论分析和测量的微波信号幅度和相位信息，M-AFM可以在亚纳米尺度上实现对电池局部电导率和介电常数的定量表征。

项目成果

集中質量型カンチレバーのナノ接触共振による水晶ウエハの加工変質層の評価

集总质量悬臂梁纳米接触共振评价晶体晶片加工损伤层

• 发表时间: 2010
• 作者: 勝又悠樹;村岡幹夫
• 通讯作者: 村岡幹夫

マイクロ波原子間力顕微鏡プローブの開発および電気的特性の評価

微波原子力显微镜探针的研制及电性能评价

• 发表时间: 2009
• 作者: 藤本紹文;細井厚志;巨陽
• 通讯作者: 巨陽

EBSD・AFM法による超細粒ECAP銅のナノスケール強度評価

使用 EBSD/AFM 方法评估超细 ECAP 铜的纳米级强度

• 发表时间: 2008
• 作者: 小島由梨(木村英彦;秋庭義明;巨陽)
• 通讯作者: 巨陽)

マイクロ波による物性評価と欠陥検出

使用微波进行物理性能评估和缺陷检测

• 发表时间: 2010
• 期刊: 非破壊検査
• 作者: 巨陽;細井厚志
• 通讯作者: 細井厚志

製膜ひずみとコア流動を利用した金属被覆ナノワイヤの曲げ加工

利用成膜应变和芯流弯曲金属涂覆的纳米线

• 发表时间: 2010
• 作者: 徳悠葵;村岡幹夫
• 通讯作者: 村岡幹夫