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Nondestructive Analysis of Tooth - Adhesive Interfaces by Surface Sensitive XAFS.

通过表面敏感 XAFS 对牙齿-粘合界面进行无损分析。

基本信息

批准号：
24890061
负责人：
WADA Takahiro
金额：
$ 1.91万
依托单位：
Tokyo Medical and Dental University
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Research Activity Start-up
财政年份：
2012
资助国家：
日本
起止时间：
2012-08-31 至 2014-03-31
项目状态：
已结题

项目摘要

Dental adhesives are used to bond the dental materials to teeth. To obtain high durability and adhesive strength, informations about the tooth (enamel/dentin) - adhesive interface are extremely important. However, conventional analysis methods have some limitations, such as destructive. X-ray absorption fine structure (XAFS), which is one of spectroscopic methods, makes possible to estimate the various properties (electronic state, peripheral atoms, coordination numbers and the bond distance) of a particular atom in the substance. In this study, we analyze the chemical state of Ca in hydroxyapatite (HAp)-10-methacryloyloxydecyl dihydrogen phosphate (MDP) mixture. MDP is widely used as an adhesive monomer.Surface sensitive XAFS techniques are applied for the HAp/MDP interface analysis. As results, we found that HAp - 10-MDP interface is thin MDP-Ca layer ( < 100 nm), and its depth of layer is depend on treatment condition (the ratio of HAp and MDP solution and the treatment period).

牙科胶黏剂是用来把牙科材料粘在牙齿上的。为了获得高耐久性和粘接强度，有关牙齿（牙釉质/牙本质）-粘接剂界面的信息非常重要。然而，传统的分析方法存在一定的局限性，如破坏性。x射线吸收精细结构（XAFS）是光谱方法的一种，它可以估计物质中特定原子的各种性质（电子态、外围原子、配位数和键距）。本研究分析了羟基磷灰石(HAp)-10-甲基丙烯酰氧癸基磷酸二氢（MDP）混合物中Ca的化学状态。MDP是一种应用广泛的粘结单体。表面敏感XAFS技术应用于HAp/MDP界面分析。结果表明，HAp - 10-MDP界面为薄的MDP- ca层（< 100 nm），其层深取决于处理条件（HAp与MDP溶液的比例和处理时间）。

项目成果

期刊论文数量（6）

专著数量（0）

科研奖励数量（0）

会议论文数量（0）

专利数量（0）

S-PRGフィラー溶出液に浸漬したヒト歯質中ホウ素の^11B-NMRによる構造解析

通过 ^11B-NMR 对浸入 S-PRG 填充剂洗出液中的人牙物质中的硼进行结构分析

DOI：
发表时间：
2013
期刊：
影响因子：
0
作者：
和田敬広;村田尚義;上原広充;鈴木卓弥;小林誠;岡田夕佳里;丹羽尉博;仁谷浩明;宇尾基弘;朝倉清高;和田敬広・本郷敏雄・宇尾基弘
通讯作者：
和田敬広・本郷敏雄・宇尾基弘

ポリキャピラリー集光マイクロビームを用いたmicro XAFSによる失活ガスセンサーの分析

使用多毛细管聚焦微束通过微型 XAFS 分析失活气体传感器

DOI：
发表时间：
2014
期刊：
影响因子：
0
作者：
Izumi N;Asahina Y;Kumada H et al;河村隼;和田敬広・村田尚義・上原広充・鈴木卓弥・小林誠・岡田夕佳里・丹羽尉博・仁谷浩明・宇尾基弘・朝倉清高
通讯作者：
和田敬広・村田尚義・上原広充・鈴木卓弥・小林誠・岡田夕佳里・丹羽尉博・仁谷浩明・宇尾基弘・朝倉清高

Confocal XAFS & XRF開発と実デバイス測定への応用

共焦 XAFS 和 XRF 开发及其在实际设备测量中的应用