课题基金 / 基金详情

Analysis and fabrication of nanoscale contacts and interfaces by scanning probe microscopy technology

Analysis and fabrication of nanoscale contacts and interfaces by scanning probe microscopy technology
通过扫描探针显微镜技术分析和制造纳米级接触和界面
批准号：
24246014
负责人：
Tomitori Masahiko
金额：
$28.79万
依托单位：
Japan Advanced Institute of Science and Technology
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Scientific Research (A)
财政年份：
2012
资助国家：
日本
项目状态：
已结题
起止时间：
2012-04-01 至 2016-03-31
来源：
https://kaken.nii.ac.jp/en/grant/KAKENHI-PROJECT-24246014/
关键词：
表面・界面物性走査プローブ顕微鏡ナノコンタクト物性実験

项目摘要

项目成果

Tomitori Masahiko的其他基金

相似基金

相关文献

中文摘要
翻译
点击翻译按钮获取中文摘要
英文摘要
期刊论文(79)
专著(0)
科研奖励(0)
会议论文
二酸化チタン表面へのリン酸カルシウム析出のXPSとAFMによる解析
使用 XPS 和 AFM 分析二氧化钛表面磷酸钙沉淀
DOI： --
发表时间： 2015
期刊：
影响因子： --
作者： [笹原 亮, 村上 達也, Le Tran Uyen Tu, 附田 健太郎, 富取 正彦]
通讯作者： 富取 正彦
Decrease in electrostatic force in a tunneling region detected by nc-AFM/STM
nc-AFM/STM 检测到隧道区域静电力的减小
DOI： --
发表时间： 2013
期刊：
影响因子： --
作者： [山口大智, 金井輝人, 兵頭政春, Xiaoyang Wang, Yong Zhu, Chuangtian Chen, 渡部俊太郎, 張贇, 岡田佳子, 渡辺昌良, 星遼太, Toyoko Arai]
通讯作者： Toyoko Arai
Sharpening probes towards nanoscale imaging using scanning probe microscopy
使用扫描探针显微镜将探针锐化至纳米级成像
DOI： --
发表时间： 2014
期刊：
影响因子： --
作者： [M. Ishida, Y. Kakinuma, T. Aoyama, H. Anzai, K. Sakurai, M. Tomitori]
通讯作者： M. Tomitori
チャージアンプを組み込んだNC-AFMによる表面状態解析
使用内置电荷放大器的 NC-AFM 进行表面状况分析
DOI： --
发表时间： 2014
期刊：
影响因子： --
作者： [N. Ishii, K. Kaneshima, K. Kitano, T. Kanai, S. Watanabe, and J. Itatani, 小林弘樹，大森豪，西野勝敏，田邊裕治，解晨，古賀良生, 野上真]
通讯作者： 野上真
共 74 条
    Nanoscale mechanical analysis of nanocontacts using combined scanning probe microscopy capable of detection of energy dissipation
    Measurements of the charge state of a molecule on a solid substrate on the basis of scanning probe microscopy
    海外基金