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Nanoscale mechanical analysis of nanocontacts using combined scanning probe microscopy capable of detection of energy dissipation

Nanoscale mechanical analysis of nanocontacts using combined scanning probe microscopy capable of detection of energy dissipation
使用能够检测能量耗散的组合扫描探针显微镜对纳米接触进行纳米级机械分析
批准号：
18H03879
负责人：
Tomitori Masahiko
金额：
$28.2万
依托单位：
Japan Advanced Institute of Science and Technology
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Scientific Research (A)
财政年份：
2018
资助国家：
日本
项目状态：
已结题
起止时间：
2018-04-01 至 2022-03-31
来源：
https://kaken.nii.ac.jp/en/grant/KAKENHI-PROJECT-18H03879/
关键词：
表面・界面物性エネルギー散逸走査型プローブ顕微鏡電子顕微鏡接合

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共 71 条
    Measurements of the charge state of a molecule on a solid substrate on the basis of scanning probe microscopy
    Analysis and fabrication of nanoscale contacts and interfaces by scanning probe microscopy technology
    海外基金