High Voltage Electron Phase Differential Microscopy of Metal-Ion Conductor Interfaces
High Voltage Electron Phase Differential Microscopy of Metal-Ion Conductor Interfaces
金属-离子导体界面的高压电子相差显微镜
批准号：
25246001
负责人：
Tanji Takayoshi
金额：
$27.37万
依托单位：
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Scientific Research (A)
财政年份：
2013
资助国家：
日本
项目状态：
已结题
起止时间：
2013-10-21 至 2017-03-31
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DOI：
10.1093/jmicro/dfu113
发表时间：
2015-04-01
期刊：
MICROSCOPY
影响因子：
1.8
作者：
[Ishida, Takafumi, Kawasaki, Tadahiro, Ikuta, Takashi]
通讯作者：
Ikuta, Takashi
A-B効果位相板を用いた電子線微分干渉顕微鏡法の開発Ⅲ
使用A-B效应相位板III开发电子束微分干涉显微镜
使用A-B效应相位板III开发电子束微分干涉显微镜
DOI：
--
发表时间：
2015
期刊：
影响因子：
--
作者：
[平間 一行, 狩元 慎一, Krockenberger Yoshiharu, 谷保 芳孝, 山本 秀樹, 丹司敬義, 新美博久, 山本悠太, 臼倉治郎]
通讯作者：
丹司敬義, 新美博久, 山本悠太, 臼倉治郎
Electron Differential Microscopy with an A-B Effect Phase Plate
使用 A-B 效应相位板的电子微分显微镜
使用 A-B 效应相位板的电子微分显微镜
DOI：
--
发表时间：
2017
期刊：
影响因子：
--
作者：
[T. Fujita , K. Morimoto, G. Allison, S. Teraoka, H. Kiyama, M. Larsson, A. Ludwig, A. D. Wieck, A. Oiwa , and S. Tarucha, 松高政・絹田昌代, T.Tanji,T.Ishida and W. Li]
通讯作者：
T.Tanji,T.Ishida and W. Li
Electron differetial phase microscopy with an A-B effect phase plate
配备 A-B 效应相位板的电子微分相位显微镜
配备 A-B 效应相位板的电子微分相位显微镜
DOI：
--
发表时间：
2016
期刊：
影响因子：
--
作者：
[有本章, T. Tanji]
通讯作者：
T. Tanji
Electron Holography of Interfaces between Metal and Oxide Ionic Conductor
金属和氧化物离子导体之间界面的电子全息术
金属和氧化物离子导体之间界面的电子全息术
DOI：
--
发表时间：
2013
期刊：
影响因子：
--
作者：
[白澤徹郎, Voegeli Wolfgang, 山口雄大, 高橋敏男, T. Tanji]
通讯作者：
T. Tanji
共 39 条