X線回折法による希土類元素を含む結晶中の電子密度解析

使用 X 射线衍射法对含有稀土元素的晶体进行电子密度分析

• 批准号: 06241234
• 负责人: 田中 清明
• 金额: $ 1.47万
• 依托单位: Nagoya Institute of Technology
• 依托单位国家: 日本
• 项目类别: Grant-in-Aid for Scientific Research on Priority Areas
• 财政年份: 1994
• 资助国家: 日本
• 起止时间: 1994 至 无数据
• 项目状态: 已结题
• 来源: https://kaken.nii.ac.jp/en/grant/KAKENHI-PROJECT-06241234/
• 关键词: X線回折法; 希土類元素; 電子密度解析; X線原子軌道解析; 多重反射; 非調和熱振動; 4f電子

研究代表者は軌道間の規格直交条件を満足する最小二乗法を開発し、X線回折実験から原子軌道(AO)を求める方法(X線原子軌道・分子軌道解析法)を提案した。前年度に、この方法を対称心のみを有する低対称場中の遷移金属錯体に適用し、Cu(diazaoctane)_2(NO_3)_2中のCu^<2+>3d軌道を求めることに成功し、X線原子軌道解析法は一般的に行うことができるようになった。本重点領域研究では、X線原子軌道解析法の適用対象を希土類元素等を含む結晶広げるための研究を行った。その結果、従来注目されていなかった多重反射効果が、重原子結晶の精密解析においては無視できないことが明らかになった。そこで多重反射を避ける、4軸回折計による強度測定法を確立した。この方法を使用して、PtP_2及びNiP_2のX線原子軌道解析を行い、各5d,3d軌道関数を決定した(発表予定)。しかし、PtP_2では、残渣密度図のPt原子上に大きな谷が存在する。これは使用した内殻電子の原子軌道関数に相対論効果がとりこまれていないことによると考えられるので、相対論効果を考慮した原子軌道関数に基づく解析を更に行う予定である。また、希土類元素結晶のX線原子軌道解析の最初の系として、立方晶CeB_6を選んだ。前記の多重反射を避ける強度測定法を使用して、室温で精密強度測定を行った後、X線原子軌道解析を行ったところ、4f電子と思われる山を変形密度図上に見つけた。4f電子による変形密度図上の山や谷は、原子核の近傍に位置するので、非調和熱振動による山と区別するのがむつかしいといわれている。事実、X線原子軌道解析を行っても、非調和熱振動解析を行っても、この山は有意な影響を受ける。そこで両者を実験的に区別するため現在、100K,165K,230K298Kで、X線精密強度測定を行っている。その結果、4f電子の山をX線回折法で見ることができることを世界で初めて、明示できるのではないかと考えている。

The representative of the research is that the orthonormal condition of the interchannel gauge is suitable for the least square method and the X-ray back-folding atomic channel (AO) method (X-ray atomic channel molecular channel analytical method). In the previous year, the method is satisfactory, and there are general standards in the low-level weighing field, such as the transfer of metal errors in Cu (diazaoctane) _ 2 (NO_3) _ 2, the solution of Cu ^ & lt;2+>3d in NO_3 _ 2, X-ray atomic trace analysis and X-ray atomic trace analysis. In this key field, the analytical method of X-ray atomic trace is applied to the study of rare earth elements, such as rare earth elements and so on. The results show that we should pay attention to the results of multi-reflection and the precise analysis of heavy atoms. Make sure that the multi-reflection method is accurate, and that the strength measurement method is accurate. The NiP_2 method is determined by using the atomic traces of X-ray, PtP_2, and X-ray atomic traces to determine the number of traces (given in the table). The density of PtP_2, the density of residue, the density of residue and the density of residue. The number of atomic traces is calculated by the use of internal electrons. the results show that the atomic channel numbers are analyzed in terms of the number of atomic channels. X-ray atomic trace analysis of rare earth and rare earth elements is used to analyze the structure of rare earth and rare earth elements. the initial atomic trace analysis of rare earth and rare earth elements is based on the X ray atomic trace analysis of rare earth and rare earth elements, and the selection of cubic CeB_6. After the previous multi-reflection avoidance strength method was used to determine the temperature, the X-ray atomic channel was analyzed by X-ray atomic channel analysis, and 4f electrons were used to measure the shape density of the mountain. The shape density of 4f electrons is higher than that of mountain valleys, near nuclear sites, non-atomic and vibrational regions, respectively. Events, X-ray atomic channel analysis, non-vibration and vibration analysis, are intended to affect the impact. Now, 100K, 165K, and 230K298K, X-ray precision strength test. The results of the test, the 4f computer X-line back-to-back method, the end of the first year of the world, and the express statement that you are going to pass the examination.

项目成果

S.YAMAZAKI 他6名: ""A Structural study of facet and off-facet parts of rare-earth garnets,Gd_3Sc_2Al_3O_<12>,Gd_3Sc_2Ga_3O and La_3Lu_2Ga_3O_<12>."," J.Solid State Chem.108. 94-98 (1994)

S.YAMAZAKI 和其他 6 人：“稀土石榴石刻面和非刻面部分的结构研究，Gd_3Sc_2Al_3O_<12>，Gd_3Sc_2Ga_3O 和 La_3Lu_2Ga_3O_<12>。”，J.Solid State Chem.108。 98 (1994)

田中清明: "電子密度解析法の開発と遷移金属化合物結晶への応用" 日本結晶学会誌. 36. 307-319 (1994)

Kiyoaki Tanaka：“电子密度分析方法的发展及其在过渡金属化合物晶体中的应用”日本晶体学会杂志 36. 307-319 (1994)。

K.TANAKA 他4名: "“Multiple diffraction effect in accurate structure factor measurements of PtP_2 crystals"" AcTa Crystallogr.A50. 246-252 (1994)

K. TANAKA 和其他 4 人：“PtP_2 晶体精确结构因子测量中的多重衍射效应”AcTa Crystallogr.A50 (1994)。