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温度傾斜による表面自己組織構造の伝播プロセスの制御

温度梯度控制表面自组织结构的传播过程

基本信息

批准号：
09229218
负责人：
朝倉清高
金额：
$ 1.34万
依托单位：
The University of Tokyo
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Scientific Research on Priority Areas
财政年份：
1997
资助国家：
日本
起止时间：
1997 至无数据
项目状态：
已结题

来源：
https://kaken.nii.ac.jp/en/grant/KAKENHI-PROJECT-09229218/
关键词：
XPEEM 濃度傾斜表面科学波自己組織化

项目摘要

われわれは、表面の不純物濃度や温度を傾斜させることで表面の非線型反応性を制御することを目的として、表面反応の動的な解析を行うのに必要なリアルタイムイメージングシステムを開発し、複雑な化学過程を直接捉える試みを行った。リアルタイムイメージングシステムについては、昨年度ほぼ完成し、本年更に、改良を加えた。主な改良点は、1.冷却CCDカメラを装着し、高感度で像観察できるようにした。2.蒸着源を改良し、より正確に蒸着できるようにした。3.電子線源を取り付けて、電子励起2次電子像を観測できるようにした。こうした改良により、Si(111)表面にAuを蒸着したもので、AuのX線励起PEEM像の画像化することに成功した。全電子を用いて、画像化しているが、現左X線源を改良し、調整を進めることで、エネルギー選別光電子スペクトル像測定を試みている。さらに電子線源を取り付け、サンプルバイアスを変化させることで、Auger電子放出顕微鏡(AEEM)を可能とした。Agの昇華過程とAgアイランド上の傾斜化過程の観察を行った。Agアイランドの昇華過程を電子線励起2次電子像(SEEM像)により観察し、それに伴う傾斜構造の形成過程を調べた様子を示した。周辺から昇華し、それに伴い、Agのアイランドの厚みに傾斜が生じている。傾斜や厚みについては、今後、さらに詳細に解析する必要がある。

The concentration of impurities on the surface, the temperature gradient, the control of the nonlinear reactivity of the surface, the analysis of the surface reactivity, and the direct detection of chemical processes are necessary. The list of items in the list is complete, updated, and improved. Main improvement points: 1. Cooling CCD camera installation, high sensitivity image detection 2. Steamed source improved, correctly steamed 3. The electron source is selected from the electron source, and the electron excitation generates the second electron image. This is a successful process of Au evaporation on Si(111) surface and Au X-ray excitation on PEEM image. All-electron photoelectron imaging The electron source is selected, and the electron emission microscope (AEEM) is selected. The sublimation process of Ag and the tilt process of Ag on the surface were observed. The sublimation process of Ag atoms is observed by electron beam excitation and the formation process of inclined structure is shown by electron beam excitation. The surrounding area is sublimated, the surrounding area is accompanied, and the surrounding area is inclined. Inclination, thickness, future, and detailed analysis are necessary.