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Development of high-accuracy and large-view-field deformation measurement technique to investigate micro-nano-scale deformation distributions around interfaces

Development of high-accuracy and large-view-field deformation measurement technique to investigate micro-nano-scale deformation distributions around interfaces
开发高精度大视场变形测量技术以研究界面周围微纳尺度变形分布
批准号：
16K17988
负责人：
Wang Qinghua
金额：
$2.66万
依托单位：
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Young Scientists (B)
财政年份：
2016
资助国家：
日本
项目状态：
已结题
起止时间：
2016-04-01 至 2018-03-31
来源：
https://kaken.nii.ac.jp/en/grant/KAKENHI-PROJECT-16K17988/
关键词：
ナノマイクロ材料力学非破壊計測表面、界面変形評価ひずみ分布光学手法画像処理Deformation measurementStrain distributionStress concentrationMoire techniqueImage processingPhase analysisCFRPOptical methodInterfacial damage変形測定マイクロナノスケール界面破壊

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DOI： --
发表时间： 2016
期刊：
影响因子： --
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通讯作者： S. Orighara
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DOI： --
发表时间： 2017
期刊：
影响因子： --
作者： []
通讯作者：
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DOI： --
发表时间： 2017
期刊：
影响因子： --
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通讯作者： 王 慶華・高下 陽右・李 志遠・津田 浩・喜多村 竜太・荻原 慎二
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DOI： --
发表时间： 2017
期刊：
影响因子： --
作者： [Q. Wang, S. Ri, H. Tsuda]
通讯作者： H. Tsuda
共 21 条
    Development of 3D micro-deformation distribution measurement technique using optical methods
    Development of high-accuracy measurement technique for micro/nano-scale strain and residual strain distributions of semiconductor devices
    海外基金