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Measurement of momentum transfer process during light reflection using optical frequency comb

使用光学频率梳测量光反射过程中的动量传递过程

基本信息

批准号：
17K14320
负责人：
Tani Shuntaro
金额：
$ 2.66万
依托单位：
The University of Tokyo
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Young Scientists (B)
财政年份：
2017
资助国家：
日本
起止时间：
2017-04-01 至 2019-03-31
项目状态：
已结题

项目摘要

项目成果

期刊论文数量（8）

专著数量（0）

科研奖励数量（0）

会议论文数量（0）

专利数量（0）

Pulse-by-pulse surface structure evolution during multiple-pulse femtosecond laser ablation

多脉冲飞秒激光烧蚀过程中逐脉冲表面结构的演变

DOI：
发表时间：
2019
期刊：
影响因子：
0
作者：
安中大樹;御代田宗佑;羽田野剛司;泉田渉;長瀬勝美;平山祥郎;秋葉圭一郎;森龍也;Shuntaro Tani and Yohei Kobayashi
通讯作者：
Shuntaro Tani and Yohei Kobayashi

Pulse-by-pulse depth profile measurement of femtosecond laser ablation on copper

铜上飞秒激光烧蚀的逐脉冲深度轮廓测量

DOI：
10.1007/s00339-018-1694-2
发表时间：
2018
期刊：
Applied Physics A
影响因子：
0
作者：
Tani Shuntaro;Kobayashi Yohei
通讯作者：
Kobayashi Yohei

高強度超短パルスレーザー照射化での表面形状のパルス毎ダイナミクス

高强度超短脉冲激光辐照中表面形貌的逐脉冲动力学

DOI：
发表时间：
2019
期刊：
影响因子：
0
作者：
谷峻太郎;小林洋平
通讯作者：
小林洋平

谷峻太郎, 小林洋平

谷俊太郎、小林阳平

DOI：
发表时间：
2018
期刊：
影响因子：
0
作者：
森龍也;姜越;藤井康裕;気谷卓;吉澤俊祐;泉二玲緒奈;白木賢太郎;山本洋平;是枝聡肇;小島誠治;金属のフェムト秒レーザー加工過程におけるエネルギー移動
通讯作者：
金属のフェムト秒レーザー加工過程におけるエネルギー移動

フェムト秒レーザーアブレーション過程の表面粗さ依存性

飞秒激光烧蚀过程的表面粗糙度依赖性

DOI：
发表时间：
2018
期刊：
影响因子：
0
作者：
谷峻太郎;小林洋平
通讯作者：
小林洋平

DOI：
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作者：
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作者：
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Tani Shuntaro其他文献

Q-switching stability limits of Kerr-lens mode locking

克尔透镜锁模的调Q稳定性极限

DOI：
10.1103/physreva.102.043505
发表时间：
2020
期刊：
Physical Review A
影响因子：
2.9
作者：
Kimura Shota;Tani Shuntaro;Kobayashi Yohei
通讯作者：
Kobayashi Yohei

Pulse-by-pulse evolution of surface morphology driven by femtosecond laser pulses

飞秒激光脉冲驱动的表面形态的逐脉冲演化

DOI：
10.1063/5.0140178
发表时间：
2023
期刊：
Journal of Applied Physics
影响因子：
3.2
作者：
Tani Shuntaro;Kobayashi Yohei
通讯作者：
Kobayashi Yohei

Sr2VFeAsO3のVサイトの元素置換効果

Sr2VFeAsO3 V位元素置换效应

DOI：
发表时间：
2019
期刊：
影响因子：
0
作者：
Ikeda Akihiko;Nomura Toshihiro;Matsuda Yasuhiro H.;Tani Shuntaro;Kobayashi Yohei;Watanabe Hiroshi;Sato Keisuke;中島正道
通讯作者：
中島正道

吸着薄膜における弾性異常

吸附薄膜的弹性异常

DOI：
发表时间：
2019
期刊：
影响因子：
0
作者：
Ikeda Akihiko;Nomura Toshihiro;Matsuda Yasuhiro H.;Tani Shuntaro;Kobayashi Yohei;Watanabe Hiroshi;Sato Keisuke;中島正道;巻内崇彦，山下勝之，互井通裕，永合祐輔，白濱圭也
通讯作者：
巻内崇彦，山下勝之，互井通裕，永合祐輔，白濱圭也