スピン偏極分光及び磁気二色性を用いた磁性超薄膜及び超格子の電子状態の研究

利用自旋偏振光谱和磁二色性研究磁性超薄膜和超晶格中的电子态

• 批准号: 10130218
• 负责人: 今田 真
• 金额: $ 1.28万
• 依托单位: Osaka University
• 依托单位国家: 日本
• 项目类别: Grant-in-Aid for Scientific Research on Priority Areas (A)
• 财政年份: 1998
• 资助国家: 日本
• 起止时间: 1998 至 无数据
• 项目状态: 已结题
• 来源: https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-10130218/
• 关键词: 磁性薄膜; 磁気二色性

SPring-8の円偏光軟X線ビームラインBL25SUに光電子顕微鏡(PEEM)を設置し、磁性薄膜や多層膜をはじめとした微小磁性構造の研究を行った。このビームラインでは、遷移金属の2p内殻吸収領域を含む500-1500eVの範囲で高エネルギー分解能かつ高強度の円偏光を利用することができる。磁化した試料の内殻光吸収スペクトルを円偏光を使って測定すると、円偏光のスピンと磁化が平行なときと反平行なときでスペクトルが異なる。これは、円偏光励起の選択則と励起する内殻軌道のスピン軌道相互作用によって、スピンおよび軌道角運動量選択的に内殻電子が励起されるためである。例えば、遷移金属の2p3/2領域の光を試料に表面すれすれ入射させると、磁化の光スピン方向成分が正か負かによって光吸収強度の大小が決まる。これをPEEMでみると、磁化方向の光スピン成分が像の濃淡として現れることになる。まず、あらかじめSi基板上に電子ビームリソグラフィ法で作成した磁性体薄膜パターンの磁区構造を観察した。形状と大きさの変化に伴い、磁区構造が質的に変化する様子が観察された。磁性体微細構造からの漏洩磁束と構造内部の磁区構造によるエネルギーのバランスでこれが説明できると考え、解析を行っている。次に、料準備槽においてin situで単結晶基板上に磁性体超薄膜をエピタキシャル成長させ、超格子構造を作成した。これを超高真空中を測定槽に移送して磁区構造を測定した。さらに、光エネルギーを変化させながらPEEM像を測定することで、磁気円二色性顕微分光を行った。

SPring-8 polarizer X-ray photoelectron micrometer (PEEM) setting, magnetic film polarizer X-ray photoelectron micrometer (PEEM) setting, magnetic film polarizing X-ray photoelectron micrometer (PEEM) setting, magnetic film polarizing X-ray photoelectron micrometer (PEEM) configuration and magnetic thin film optical microfabrication are studied. The absorption field in the range of "500-1500eV" contains the decomposition energy of "high intensity", "high intensity" and "polarization". The magnetization of light absorption and polarization in the material causes the measurement of light, polarization, magnetization, parallel, anti-parallelism, anti-parallelism. The switch and polarizer are selected. The internal generator which is selected for the interaction between the inner and outer lanes and the corner of the channel is activated. For example, in the field of 2p3/2, the surface of the optical material is incident, and the component in the direction of the magnetized optical material is the optical absorption intensity. In the direction of magnetization, the composition of the PEEM is similar to that of the light, and the magnetization direction is light. In this paper, the thin film of magnets is fabricated on the Si substrate by using the method of scanning electron microscopy and scanning electron microscopy. The shape is very large, and the magnetic field is made of the companion and the magnetic field. Magnetic microfabrication, leakage magnetic beam, internal magnetic field, magnetic field and magnetic field. In the secondary and material level grooves, the magnetic ultrathin films are grown on the crystal substrate, and the superlattices are fabricated. The ultra-high vacuum measurement slot, transfer and magnetic field are made to measure the precision. The PEEM image is used to determine the optical density, the dichroism and the differential light line of the magnetic device.

项目成果

S.Suga: "Magnetic dichroism in core absorption and photoemission" J.Electron Spectrosc. Relat.Phenom.92. 1-9 (1998)

S.Suga：“核心吸收和光电发射中的磁二色性”J.Electron Spectrosc。

S.Imada: "MCD in 2p and 3p XAS of Mu-Zn ferrite" J.Electron Spectrosc. Ralat. Phenom.88-91. 195-199 (1998)

S.Imada：“Mu-Zn 铁氧体 2p 和 3p XAS 中的 MCD”J.Electron Spectrosc。