Untersuchung modulierter Fresnoitstrukturen mittels quantitativer Hochauflösungstransmissionselektronenmikroskopie

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Modulationen displaziver Art entstehen durch gekoppelte Verschiebungen einzelner Atome oder Koordinationspolyeder mit einer mittleren Periodizität, die in mindestens einer kristallographischen Richtung ein nicht ganzzahliges Vielfaches der Gitterkonstanten ist. Neben den integral erfassenden Verfahren der Röntgen- und Neutronenbeugung liefert die Kombination von Transmissionselektronenmikroskopie, Elektronenbeugung und spektroskopischen Verfahren Aussagen über modulierte Strukturen in nanoskopischen Bereich. Ziel des Vorhabens ist die Anwendung der quanitativen Hochauflösungstransmissionselektronenmikroskopie auf die Untersuchung modulierter Phasen. Durch Verallgemeinerung derzeit üblicher Optimierungsverfahren soll an Modellsystemen die Abhängigkeit der Ausbildung modulierter Strukturen von der chemischen Zusammensetzung untersucht werden. Mit einem aberrationskorrigierten 200kV Hochauflösungstransmissionselektronenmikroskop sollen Mischkristalle der quasibinären Systeme Ba2TiSi2O8 sowie Ba2TiGe2O8 sowie Ba2TiSi2O8 - Sr2TiSi2O8 charakterisiert werden. Die lokale chemische Zusammensetzung untersuchter Bereiche wird dabei mittels analytischer Transmissionselektronenmikroskopie (vorwiegend Elektronenenergieverlustspektroskopie) detektiert.