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放射光走型分析顕微鏡による極微小部非破壊分析

放射光走型分析顕微鏡による極微小部非破壊分析
使用同步辐射扫描显微镜对显微零件进行无损分析
批准号：
61234004
负责人：
合志 陽一
金额：
$25.6万
依托单位：
The University of Tokyo
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Special Project Research
财政年份：
1986
资助国家：
日本
项目状态：
已结题
起止时间：
1986 至 --
来源：
https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-61234004/
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知能システム化研究
  • 批准号：
    62117006
  • 项目类别：
    Grant-in-Aid for Special Project Research
  • 资助金额：
    $10.56万
  • 财政年份：
    1987
  • 负责人：
    合志 陽一
  • 依托单位：
    The University of Tokyo
知能システム化研究
  • 批准号：
    63108004
  • 项目类别：
    Grant-in-Aid for Special Project Research
  • 资助金额：
    $16.64万
  • 财政年份：
    1986
  • 负责人：
    合志 陽一
  • 依托单位：
    The University of Tokyo
放射光走査型分析顕微鏡の基本設計
  • 批准号：
    60229007
  • 项目类别：
    Grant-in-Aid for Special Project Research
  • 资助金额：
    $1.92万
  • 财政年份：
    1985
  • 负责人：
    合志 陽一
  • 依托单位：
    The University of Tokyo
走査型光音響マイクロアナライザーの試作と工業分析化学への応用に関する研究
  • 批准号：
    56850179
  • 项目类别：
    Grant-in-Aid for Developmental Scientific Research
  • 资助金额：
    $6.49万
  • 财政年份：
    1981
  • 负责人：
    合志 陽一
  • 依托单位：
    The University of Tokyo