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走査型トンネル顕微鏡による金属表面の極微視的観察

走査型トンネル顕微鏡による金属表面の極微視的観察
使用扫描隧道显微镜对金属表面进行显微观察
批准号：
62750651
负责人：
富取 正彦
金额：
$0.58万
依托单位：
Tokyo Institute of Technology
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Encouragement of Young Scientists (A)
财政年份：
1987
资助国家：
日本
项目状态：
已结题
起止时间：
1987 至 --
来源：
https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-62750651/
关键词：

项目摘要

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