Untersuchung elektronischer und gitterdynamischer Eigenschaften des Mischsystems Zn2(1-x)CuxInxS2 (ZCIS)

混合体系 Zn2(1-x)CuxInxS2 (ZCIS) 的电子和晶格动力学性质研究

• 批准号: 5223368
• 负责人: Dr. Volker Riede
• 金额: --
• 依托单位: Fakultät für Physik und Erdsystemwissenschaften
• 依托单位国家: 德国
• 项目类别: Research Grants
• 财政年份: 2000
• 资助国家: 德国
• 起止时间: 1999-12-31 至 2001-12-31
• 项目状态: 已结题
• 来源: https://gepris.dfg.de/gepris/projekt/5223368?language=en
• 关键词: Untersuchung; elektronischer; und; gitterdynamischer; Eigenschaften

Für das Mischsystem Zn2(1-x)CuxInxS2 (ZCIS) soll der Einfluß der Mischzusammensetzung auf die optischen Eigenschaften bestimmt werden. Die optisch-spektroskopischen Untersuchungen sollen zur Klärung von zwei Schwerpunkten beitragen: Zum einen sind mit Hilfe der UV-NIR-Transmissions- und Reflexionsmessungen sowie der Photolumineszenz die elektronischen Übergänge im Bereich der verbotenen Zone (bandgap) mischungs- und temperaturabhängig zu untersuchen. Es ist das Ziel, Aussagen über die Defekte zu erhalten und zur Klärung der sogenannten Bandlückenanomalie im Bereich der ZnS-nahen Mischungszusammensetzung beizutragen. Von besonderem Interesse ist außerdem der Einfluß des Phasenübergangs auf das optische Verhalten. Zum zweiten sollen erstmals die gitterdynamischen Eigenschaften mit Hilfe der Fourier-Transform-Infrarot-Spektroskopie und der RamanSpektroskopie in Abhängigkeit von den gleichen Parametern untersucht werden, um auch hier den Einfluß des Phasenüberganges zu bestimmen. Die Raster-Mikroraman-Spektroskopie und die UVVIS-NIR-Mikrospektroskopie sollen Aussagen zur Mikrostruktur (Korngrenze, Sekundärphasen) liefern.

对于Zn 2（1-x）CuxInxS 2（ZCIS）混合体系，可考虑混合物对光学特性的影响，从而得到韦尔登。光学光谱研究解决了两种光谱的光致发光问题：利用紫外-近红外透射和反射原理，可以在带隙区（bandgap）的电子发射区（electronischen Übergänge）和温度下实现光致发光。这是Ziel，Aussagen über die Defekte zu erhalten and zur Klärung der sogenannten Bandlückenanomalie im Bereich der ZnS-nahen Mischungszusammensetzung beizutragen. Von besonderem Interesse ist außerdem der Einfluencing des Phasenübergangs auf das optische Verhalten.因此，我们可以通过傅里叶变换-红外光谱和拉曼光谱的辅助来解决动态特征值的计算问题，这两个问题都可以通过对韦尔登的计算来解决，也可以通过对相位差的影响来解决。光栅-显微镜-光谱仪和UVVIS-NIR-显微镜-光谱仪可用于显微镜结构（Kornstruktur，Sekundärphasen）的测量。