X線散漫散乱による微細照射損傷欠陥の研究

X射线漫散射研究细小辐射损伤缺陷

• 批准号: 63550479
• 负责人: 山川 浩二
• 金额: $ 0.96万
• 依托单位: Hiroshima University
• 依托单位国家: 日本
• 项目类别: Grant-in-Aid for General Scientific Research (C)
• 财政年份: 1988
• 资助国家: 日本
• 起止时间: 1988 至 无数据
• 项目状态: 已结题
• 来源: https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-63550479/
• 关键词: 照射損傷; X線散漫散乱; 微細欠陥; 電子顕微鏡

中性子照射した銅、ニッケル、モリブデン等について照射により形成される損傷欠陥を電子顕微鏡観察により調べた。銅、ニッケル、モリブデンそれぞれについて比較的サイズの大きい複雑な形状の転位ループと微細な点状欠陥が観察された。大きなサイズの転位ループは銅、ニッケル、モリブデンのいずれの金属においても格子間原子型であることがinside-outside法により判明した。また、微細な点状欠陥は、銅の場合その欠陥の観察方向による形状変化からほとんどが積層欠陥四面体であることがわかった。モリブデンの場合、オーバフォーカスとアンダフォーカス時にボイドに特徴的なコントラストを示すのでボイドである。ニッケルの場合も微細な点状欠陥はボイドであると推定さる。中性子照射においては銅は電子顕微鏡観察可能な照射欠陥が形成されやすい金属、またニッケルは比較的形成されにくい金属とされるが5×10^<23>n/m^2程度と重照射した場合はあまり差異がない。比較的大きいサイズの転位ループのサイズは添加不純物原子の量の増加と共に減少するが微少欠陥の寸法はほとんど変化しなかった。またそれらの数密度も濃度と共にそれほど大きくは変化しなかった。比較的少ない照射量の場合は銅とニッケル中に観察される照射欠陥の数に差があった。すなわち銅に多く観察された。低照量の銅試料で電子顕微鏡で観察される照射欠陥について詳細に調べた。その結果、次のことがわかった。バルク試料を照射し研磨後観察しているので、本来同じ数密度であるはずなのに、試料のうすい部分では厚い部分より小さい欠陥がより高密度で観察された。すなわち観察されうる微細欠陥は膜厚と共に変わるのでそれも考慮して解析する必要がある。また微細欠陥はうすい部分で調べる必要がある。

The exposure of the neutral to the microwave, and so on, results in the formation of a negative electron micrograph to monitor the temperature. The location of the shape is very small, and the dot shape is not good enough. In this paper, we use the method of inside-outside to determine the temperature of the metal in the lattice. The shape of the tetrahedron is not valid, and the shape of the tetrahedron is not in the shape of the tetrahedron. If you do not want to do so, you will need to make sure that you do not know what to do when you do not need to do so. I don't know what to do. I don't know. I don't know. It is possible that under-exposure to neutral radiation may lead to the formation of hot metal, the formation of temperature-sensitive metal, and the formation of low-temperature metal contact temperature of 5 × 10 ^ & lt;23>n/ m ^ 2 to the extent of low-temperature radiation. It is more important to add the amount of atoms than to add a total of atoms, less, less and less. In general, the numerical density is very high. The amount of radiation exposure is less than the amount of exposure, which is less than the amount of exposure. I don't know. I don't know. I don't know. The low-dose radiation dose is low, and the electron microphone is used to observe the radiation dose. The results of the test, the results of the test, the results and the results of the results. After grinding, it was observed that the density of the material was the same as that of the numerical density, the thickness of the part was small, the high density was low. In this paper, we observe that the thickness of the film is not as good as the thickness of the film. I don't know how much I need to know.

项目成果

K.Yamakawa.: J. Nucl. Mater.

K.Yamakawa.：J.Nucl。

K.Yamakawa.: J. Nucl. Mater.155-157. 1211-1216 (1988)

K.Yamakawa.：J.Nucl。