コヒーレントX線を用いたX線散漫散乱法の開発研究

利用相干X射线的X射线漫散射方法的研究与发展

• 批准号: 08874034
• 负责人: 飯田 敏
• 金额: $ 1.15万
• 依托单位: University of Toyama
• 依托单位国家: 日本
• 项目类别: Grant-in-Aid for Exploratory Research
• 财政年份: 1996
• 资助国家: 日本
• 起止时间: 1996 至 无数据
• 项目状态: 已结题
• 来源: https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-08874034/
• 关键词: X線散漫散乱; シンクロトロン放射光; コヒーレンス; スペックル; フラウンホ-ファー回折

コヒーレンス長の長いX線を回折実験に用いる事を目的として,シンクロトロン放射光の横コヒーレンスをスリットからのフラウンホ-ファー回折パターンを測定することにより評価した.実験は高エネルギー物理学研究所・放射光実験施設・BL-3Aで行った.偏向電磁石からの放射光をSi(111)二結晶モノクロメーターにより波長1.39Aに単色化した.この時の縦コヒーレンス長は約1μmと推定される.X線の角度発散を約20m離して設置した上流,下流の2個のスリットにより制限した.下流のスリットからのフラウンホ-ファー回折パターンをこのスリットから更に76cm程下流に設置した原子核乾板上に記録した.X線の角度発散を10^<-5>rad.程度に抑えた時にスリットからのフラウンホ-ファー回折パターンが得られた.ミクロ・フォトメーターを用いて測定した原子核乾板上に記録されたX線強度は6.2μm幅のスリットの場合に得られるであろうフラウンホ-ファー回折パターンの計算値と良く一致した.2個の直交スリット(上流:100μm×100μm,下流:10μm×5μm)を用いた時に得られたX線強度は約1000cpsであった.この値はBL-3Aのブリルアンスと実験条件(角度発散やエネルギーバンド幅など)とから予想される値とほぼ一致した.上記のコヒーレンス長の分かったX線を用いて,FOC鉄を析出させた銅合金中のFe析出物からの散漫散乱を測定したが,X線の強度不足のためスペクルパターンの記録には至らなかった.直交スリットを用いたときのフラウンホ-ファー回折パターンには乱れが観測された.この原因がスリットの不良によるものであろうとして,ピンホールおよびスリットの製作を試みた.今後はこれらの光学素子の評価を実施する予定である.

コ ヒ ー レ ン ス の long い X-ray を inflexion be 験 に with い る matter を purpose と し て, シ ン ク ロ ト ロ ン ray の transverse コ ヒ ー レ ン ス を ス リ ッ ト か ら の フ ラ ウ ン ホ - フ ァ ー inflexion パ タ ー ン を determination す る こ と に よ り review 価 し た. Institute of Physics, Laboratory of Radiation, Laboratory, BL-3A, で line った. Bias electromagnet か ら の ray を Si (111) crystal モ ノ ク ロ メ ー タ ー に よ り wavelength 1.39 A に 単 color change し た. こ の when の 縦 コ ヒ ー レ ン ス long は presumption about 1 mu m と さ れ る. Angle X-ray の 発 scattered about 20 m from し を て set し た posh, obscene の 2 の ス リ ッ ト に よ limitations り し た. Dirty の ス リ ッ ト か ら の フ ラ ウ ン ホ - フ ァ ー inflexion パ タ ー ン を こ の ス リ ッ ト か ら more に 76 cm cheng obscene に set し た nucleus dry plate に record し た. Angle X-ray の 発 scattered を 10 ^ < - > 5 rad. When degree に え suppression た に ス リ ッ ト か ら の フ ラ ウ ン ホ - フ ァ ー inflexion パ タ ー ン が must ら れ た. ミ ク ロ · フ ォ ト メ ー タ ー を with い て determination し た nucleus dry plate に record さ れ た X-ray intensity は 6.2 mu m picture の ス リ ッ ト に の occasions to ら れ る で あ ろ う フ ラ ウ ン ホ - フ ァ ー inflexion パ タ ー ン の good computing numerical と く し た. 2 の rectangular ス リ ッ ト (high: 100 mu m X 100 microns, dirty: 10 mu m X 5 microns) を with い た に have ら れ た X-ray intensity is about 1000 CPS は で あ っ た. こ の numerical は BL - 3 - a の ブ リ ル ア ン ス と be 験 conditions (Angle 発 scattered や エ ネ ル ギ ー バ ン ド picture な ど) と か ら to think さ れ る numerical と ほ ぼ consistent Youdaoplaceholder0 た. Written の コ ヒ ー レ ン ス long の points か っ た X-ray を with い て, FOC iron objects を precipitation さ せ た copper alloy in の Fe precipitates か ら の lax scattered を determination し た が, X-ray intensity の の た め ス ペ ク ル パ タ ー ン の record に は to ら な か っ た. Rectangular ス リ ッ ト を with い た と き の フ ラ ウ ン ホ - フ ァ ー inflexion パ タ ー ン に は disorderly れ が 観 measuring さ れ た. こ の reason が ス リ ッ ト の bad に よ る も の で あ ろ う と し て, ピ ン ホ ー ル お よ び ス リ ッ ト の try making を み た. In the future, the evaluation of <s:1> <s:1> れら <s:1> optical elements <e:1> 価を implementation する will be determined である.