再結合プラズマ方式によるX線レーザーの発振実験

复合等离子体法X射线激光振荡实验

• 批准号: 08458112
• 负责人: 原 民夫
• 金额: $ 4.86万
• 依托单位: Toyota Technological Institute
• 依托单位国家: 日本
• 项目类别: Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
• 财政年份: 1996
• 资助国家: 日本
• 起止时间: 1996 至 无数据
• 项目状态: 已结题
• 来源: https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-08458112/
• 关键词: X線レーザー; 再結合プラズマ; YAGレーザー; X線レーザー共振器; 多層膜X線反射鏡

小型のYAGレーザーを励起源としたX線レーザーの実験を行った。1)X線増幅の確認プラズマ中の観測位置やプラズマ長を変えて、AlLi様イオンの3d-5f遷移(105.7Å)および3d-4f遷移(154.7Å)のスペクトル線強度を測定することにより両者の遷移における軟X線の増幅を確認した。3d-4f遷移いついてはその利得係数が3.2cm^<-1>であり、1ns以上の間持続していること、さらに利得が生じている場所がターゲット表面からの距離0.2mm〜0.4mmのところに存在することがわかった。このことは、数cmの間隔で設置した共振器ミラーで上記X線レーザー媒質をはさんでやれば、増幅に十分な回数X線が往復できることを示す。2)X線ミラーによる往復増幅実験3d-4f遷移(154.7Å)のスペクトル線に対し直入射反射率が30%である多層膜X線反射鏡を線状プラズマの軸上の一方の端に設置して往復増幅実験を行った。X線ミラーを使った場合の軟X線スペクトル強度が、ミラーを使わない場合の約3倍に達する結果を得ることができた。3)X線共振器実験2枚のX線ミラーを使って不安定共振器を構成する。ここでは観測器側のX線ミラーに取り出し開口を設けた。共振器を働かせた時、X線強度が約7倍に増加した。またそのときの増幅X線の時間発展の様子を簡単な光線追跡計算で計算したところ、1)で観測された利得の持続時間と領域を仮定して始めて実験結果を良く再現する波形が得られることがわかった。以上のように初めてX線レーザーの共振器の効果を確認することに成功した。

Small size X-ray 1) Confirmation of X-ray amplitude increase, determination of 3d-5f migration (105.7 °) and 3d-4f migration (154.7 °) of AlLi sample, determination of X-ray amplitude increase, determination of 3d-5f migration (105.7 °) and 3d-4f migration (154.7 °). 3d-4f migration, the profit coefficient of the medium is 3.2cm^<-1>, the interval is more than 1ns, the profit is generated, the distance from the surface is 0.2mm ~ 0.4mm, and the existence of the medium is not easy. The distance between the resonator and the X-ray is several centimeters, and the medium is several centimeters. 2) X-ray reflection and amplitude increase 3d-4f migration (154.7 ° C) of multi-layer X-ray mirror with linear reflection and normal incidence reflectivity up to 30% and one end of axis with reciprocating amplitude increase. The soft X-ray intensity of the X-ray is about 3 times higher than that of the soft X-ray intensity of the X-ray intensity. 3) X-ray resonators are composed of two X-ray resonators. The X-ray detector side of the detector is located at the entrance of the detector. The X-ray intensity increases by about 7 times when the resonator is removed. The time delay of the X-ray is simplified by calculating the time delay of the X-ray trace. The time delay of the X-ray trace is determined by determining the time delay of the X-ray trace. The waveform of the X-ray trace is obtained. The results of the above X-ray resonator were confirmed successfully.