フレキシブルアモルファスシリコン太陽電池モジュールの薄膜積層構造の最適化
柔性非晶硅太阳能电池组件薄膜叠层结构优化
基本信息
- 批准号:08650092
- 负责人:
- 金额:$ 1.54万
- 依托单位:
- 依托单位国家:日本
- 项目类别:Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
- 财政年份:1996
- 资助国家:日本
- 起止时间:1996 至 无数据
- 项目状态:已结题
- 来源:
- 关键词:
项目摘要
アモルファスシリコン(a-Si)太陽電池モジュールは,薄膜をフレキシブルフィルムに多層配置した構造を有しているが,構造信頼性についてはほとんど検討されてきていず,現時点でも,積層薄膜の強度評価法は確立されていない.そこで,本研究では膜生成時の積層残留応力を評価する試験法を明らかにするとともに,積層強度の影響因子を評価するために,積層薄膜の自由表面からの水素侵入に及ぼす界面と温度の影響の解析を行い,以下の結論を得た.(1)膜生成応力,力学的特性の評価:被積層材がフィルムのため,積層後は変形する.フィルムの縦弾性係数や熱膨張率は既知なので,変形後の曲率半径から膜生成時の積層残留応力(結晶化応力,熱応力)を逆問題解析により評価する手法を示した.具体的には,熱膨張率αが既知の2種類のフィルム単体の縦弾性係数Eの温度依存性を自重によるたわみから測定する.次に,Eとαが既知の2種類のフィルムにそれぞれ1層ずつを成膜して恒温炉に配置する.成膜後のフィルムは,温度変化に伴い変形する.温度変化に伴う曲率半径を実験により解析し,2種類のフィルムの結果の相違から膜のE,α,膜結晶化応力(真性応力)が逆問題解析により評価できる.(2)自由表面からの水素侵入に及ぼす界面と温度の影響:分子動力学解析により,粒界を含むα鉄の変形・破壊挙動解析を行った.界面の存在により,水素の侵入が助長される.侵入の支配因子としては,負荷ひずみと温度が挙げられ,特に前者が重要である.この水素侵入により,界面強度は減少することが明らかとなった.したがって,積層薄膜の界面強度の上昇のためには,残留応力の緩和とともに自由表面からの水素侵入の防止が重要である.
The strength evaluation method for multilayer thin films has been established. In this study, the influence factors of the laminated film strength on the formation of the laminated film were analyzed by the method of experiment, and the following conclusions were obtained. (1)Evaluation of film forming force and mechanical properties: laminated materials, laminated materials, and laminated materials. The coefficient of thermal expansion and the coefficient of thermal expansion of the film are known. The curvature radius after deformation and the residual stress of the layer during film formation (crystallization stress and thermal stress) are analyzed and evaluated. Specifically, the thermal expansion rate α is determined by measuring the temperature dependence of the coefficient of thermal expansion E of the known two types of individual units. In addition,E α is known to be the two types of film forming equipment. After film formation, the temperature changes with the change of shape. Temperature variation is accompanied by curvature radius analysis. The results of two kinds of film crystallization are contrary to each other. E,α, film crystallization force (true force) is the inverse problem analysis. (2)Effect of Water Element Invasion on Free Surface and Temperature on Grain Boundary: Molecular Dynamics Analysis of Grain Boundary with α-Fe The existence of interface, water element invasion and promotion. Intrusive factors such as temperature, humidity, etc. The water element intrudes into the interface, and the interface strength decreases. The interface strength of multilayer films increases, and the residual stress is relaxed. The free surface and the prevention of moisture intrusion are important.
项目成果
期刊论文数量(3)
专著数量(0)
科研奖励数量(0)
会议论文数量(0)
专利数量(0)
中村 春夫: "自由表面からの水素拡散に及ぼすひずみ,界面,応力状態の影響に関する分子動力学解析" 日本機械学会第74期通常総会講演論文集. (発表予定). (1997)
Haruo Nakamura:“应变、界面和应力状态对自由表面氢扩散影响的分子动力学分析”日本机械工程师学会第 74 届普通大会记录(待提交)。
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中村 春夫: "対応粒界の変形・破壊挙動に及ぼす水素原子の影響に関する分子動力学解析" 日本機械学会第9回計算力学講演会講演論文集. 96-25号. 357-358 (1996)
Haruo Nakamura:“氢原子对相应晶界变形和断裂行为影响的分子动力学分析”日本机械工程学会第九届计算力学会议论文集第96-25号(1996年)。 )
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中村 春夫: "余盛り除去による溶接残留応力の解析援用非破壊評価" 日本材料学会第23回疲労シンポジウム講演論文集. 149-152 (1996)
Haruo Nakamura:“通过去除多余堆积来辅助分析焊接残余应力”,日本材料科学学会第 23 届疲劳研讨会论文集,149-152 (1996)。
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