新しい微小領域分析法の開発とその石造物分析への応用

点击翻译按钮获取中文摘要

研究分担者のDelalieux Filip博士は平成13年11月末に来日し、様々な事情により平成14年12月に帰国された。この1年間に多くの研究成果を挙げられた。具体的には、EPMAの斜出射測定の利点である局所分析という特徴を生かして、薄膜の面内でのキャラクタリゼーションに取り組んだ。薄膜の評価はこれまで主にX線反射率測定により行われてきたが、この方法では1次X線が試料全面を照射するため試料全体の評価になってしまう。斜出射EPMA法では局所領域での薄膜分析に応用できる点が特徴となる。Filip Delalieux博士は細かい装置の改善など独自のアイデアを提案するなど積極的に装置開発に取り組み、平成14年3月にはデーターが取れるようになった。さらにX線微細ビームを用いたX線元素マッピング装置の開発にも取り組んでいただいた。この手法に斜出射X線測定を併用することにより深さ方向の情報を得ることが可能となり、3次元元素分析を提案した。特別研究員奨励費では蛍光X練マッピング分析用ソフトウエアーを購入した。このソフトによりマイクロX線ビームを2次元的に走査しながらX線分析を自動測定でき、非破壊的3次元X線元素分析の基礎データーの取得に多いに活用できた。これらの研究成果は平成14年3月28-30日の日本金属学会春季大会では外国人依頼講演や、平成14年6月3-7日のベルギーアントワープ市でのart2002国際会議、6月16-21日にドイツベルリンで開催されるEDEXRS2002国際会議でポスター発表を行った。その結果、両国際会議よりThe Wney Best Poster Award of ART2002とYoung Scientist Researcher Award at EDXRS 2002をそれぞれ受賞するなど国際的に高い評価を受けた。諸事情により滞在期間が1年間に短縮され、研究課題にある石造物への応用は時間的に困難であったが、上記のように多くの成果が得られた。研究成果は、学術英文雑誌5報(内投稿中2編)にまとめられ、国際会議で8件の口頭・ポスター発表できた。