Bestimmung von lokalen Gitterparametern und Spannungszuständen in einkristallinen Nickelbasislegierungen mit der Methode der konvergenten Beugung (CBED) im Transmissionselektronenmikroskop

点击翻译按钮获取中文摘要

In den einkristallinen Nickelbasislegierungen CSX-10 und CSX11 sollen die lokalen Zusammensetzungen und Gitterparameter von g Ausscheidungen und g Matrix durch räumlich hochauflösende Methoden im TEM gemessen werden. Energiedispersive Analyse wird bei der Messung der Phasenzusammensetzungen angewandt und konvergente Beugung erlaubt die lokale Bestimmung der Gitterparameter und damit der Gitterfehlpassungen. Vorzeichen und Betrag der Fehlpassung sind in den einzelnen Legierungen unterschiedlich und hängen von Gehalt und Verteilung der schweren Elementen W, Mo, Er, Ta ab. Die Anreicherung schwerer Elemente in Dendriten führt zu großen Unterschieden der Fehlpassung im Makrogefüge.In CMSX-10 ist im Vergleich zu CMSX-4 der Gehalt an Re verdoppelt und die Konzentration schwerer Elemente insgesamt um 24 % erhöht worden. In CMSX-11 wurde dagegen bei etwa gleich hohem g Volumenanteil der Gehalt an schweren Elementen zur Gewichtsreduktion auf ein Minimum gesenkt. Die geplanten Untersuchungen sind für Modellrechnungen der Legierung von großer Bedeutung.