均等論および均等論制限理論を中心とした特許発明の技術的範囲画定論の研究

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本研究は、十全な権利保護を受ける特許権者の利益と、技術的範囲が明確な形で画定されることにより権利行使に対する予測可能性を与えられる第三者の利益とを、特許法の目的たる産業発展に資するべくいかに調和させるのかという観点から、特許発明の技術的範囲画定に関わる諸問題を検討し、その明確な判断枠組みの構築を行うことを目的とする。本年度は、前年度に引き続き、均等論および審査経過禁反言などの均等論制限理論について、これらがいかなる思想・原理に依拠しているのかという点にまで遡りながら、その要件効果の精緻化を図った。その考察の際には、ひとり特許法の枠内に留まることなく、民事法の一般理論との整合性を維持すべく、民法をはじめ他の法分野の知見を積極的に活用している。ただし、技術的範画定をめぐる明確な判断枠組みの定立のためには、特許権者の利益と第三者の利益の調和を意識しなければならないのは当然であるものの、かような規範的観点のみを持ち出しても、このこと自体から直接に判断基準の精緻化が達成されるわけではない。この観点をより具体化し、考慮要素を析出するためのモデルが必要となる。そこで、このモデルの試案としてすでに公表している「原理間衡量モデル」の適用可能'性について再検討するとともに、特許法あるいはより広く知的財産法という法分野において経済学理論を利用することの意義・限界を意識しつつ、経済学的知見を利用したモデル構築の可能性についても考察した。これらの研究成果を随時公表していく予定である。