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Control of Silicon Nanostructure Oxidation by Nitrogen Doping

Control of Silicon Nanostructure Oxidation by Nitrogen Doping
氮掺杂控制硅纳米结构氧化
批准号:
18360027
负责人:
UEMATSU Masashi
金额:
$11.0万
依托单位:
依托单位国家:
日本
项目类别:
Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
财政年份:
2006
资助国家:
日本
项目状态:
已结题
起止时间:
2006 至 2008

项目摘要

项目成果

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中文摘要
翻译
シリコンナノ構造の酸化において、酸化膜に窒素を添加することにより、酸化形状の制御、および、酸化誘起歪・応力を変調できることを明らかにした。酸化膜への窒素添加の効果を原子レベル理論計算、マクロレベルシミュレーション計算で予測し、ナノ構造酸窒化実験を行った。窒素をシリコン・酸化膜界面へ局所的に導入することにより酸化膜の粘性が増加し、シリコン内部に生じる歪・応力が大きくなることを明らかにした。これにより窒素添加が単電子トランジスタの室温動作実現に有効であることを示した。
英文摘要
シリコンナノ構造の酸化において、酸化膜に窒素を添加することにより、酸化形状の制御、および、酸化誘起歪・応力を変調できることを明らかにした。酸化膜への窒素添加の効果を原子レベル理論計算、マクロレベルシミュレーション計算で予測し、ナノ構造酸窒化実験を行った。窒素をシリコン・酸化膜界面へ局所的に導入することにより酸化膜の粘性が増加し、シリコン内部に生じる歪・応力が大きくなることを明らかにした。これにより窒素添加が単電子トランジスタの室温動作実現に有効であることを示した。
期刊论文(0)
专著(0)
科研奖励(0)
会议论文
DOI: --
发表时间: 2007
期刊:
影响因子: --
作者: [渡邉 孝信, 大泊 巌]
通讯作者: 大泊 巌
分子動力学法によるSiO_2/Si界面近傍のボイド分布の解析
分子动力学方法分析SiO_2/Si界面附近的孔隙分布
DOI: --
发表时间: 2007
期刊:
影响因子: --
作者: [太田 洋道, 大泊 巌]
通讯作者: 大泊 巌
DOI: --
发表时间: 2007
期刊: Journal of Electrochemical Society 154
影响因子: --
作者: [T.Watanabe, I.Ohdomari]
通讯作者: I.Ohdomari
Physical Model of Electron and Hole Traps in Metal-Oxide-Nitride-Oxide-Semiconductor (MONOS) for Embedded Flash Memories
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DOI: --
发表时间: 2006
期刊: Extended Abstracts of 2006 International Workshop on Dielectric Thin Films for Future ULSI Devices
影响因子: --
作者: [M. Takihara, T. Ujihara, T. Takahashi, 松田 巌, Hiroyuki Kageshima, Kenji Shiraishi]
通讯作者: Kenji Shiraishi
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    Diffusion control in silicon by co-implanted carbon
    • 批准号:
      24560413
    • 项目类别:
      Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
    • 资助金额:
      $3.41万
    • 财政年份:
      2012
    • 负责人:
      UEMATSU Masashi
    • 依托单位:
    海外基金